论文摘要
太阳能因具有取之不尽用之不竭、清洁无污染等优点,发展前景十分广阔。在有效利用太阳能方面,太阳能电池是近年来最具活力、发展最快的研究领域之一,受到各国高度重视。太阳能电池的开发应用已逐步走向产业化和商业化,在人们的生产、生活中占据日益重要的地位。氢化非晶碳化硅(a-SiC:H)薄膜具有较宽的光学带隙,是pin型非晶硅薄膜太阳能电池较为理想的窗口材料。氢化非晶碳(a-C:H)薄膜具有红外区域透过率高、硬度高、耐摩擦、热膨胀系数小等优点,可作为太阳能电池的保护膜和抗红外反射膜。本文采用传统的射频等离子增强化学气相沉积(RF-PECVD)方法制备a-C:H及a-SiC:H薄膜。借助激光拉曼光谱(Raman)、傅立叶变换红外光谱(FTIR)和紫外可见(UV-Vis)光谱等手段,重点研究氢气/甲烷(H2/CH4)流量比、甲烷/硅烷(CH4/SiH4)流量比和射频功率等工艺参数对薄膜沉积速率、微结构、成键情况以及光学性能的影响。取得的主要研究成果如下:(1)增大H2/CH4流量比和射频功率有助于提高a-C:H薄膜的沉积速率,但过高的射频功率反而会降低薄膜沉积速率;a-SiC:H薄膜沉积速率随着CH4/SiH4流量比的增加而降低。(2)随着H2/CH4流量比的增加,a-C:H薄膜Raman光谱中D峰和G峰向低波数方向移动,sp3键的含量增加,薄膜中金刚石成分增加,D峰和G峰的强度之比ID/IG值减小;随着射频功率的提高,sp2键的含量增加,薄膜中石墨相成分增加,ID/IG值增大。对于a-SiC:H薄膜,Raman测试结果表明,随着CH4/SiH4流量比的增加,薄膜的有序度逐渐降低。FITR测试结果表明,a-SiC:H薄膜中Si-C键和C-C键的强度随着CH4/SiH4流量比的增加而增大。(3) UV-Vis光谱研究表明,随着H2/CH4流量比的增加,a-C:H薄膜的透过率增加,吸收边随之向短波方向移动,光学带隙增大;随着射频功率的提高,薄膜的透过率减少,吸收边随之向长波方向移动,光学带隙减小。结合Raman分析结果可知,a-C:H薄膜透过率和光学带隙与sp2键和sp3键的相对含量有密切联系,相对含量越高,薄膜中石墨相的成分越多,薄膜透过率越低,光学带隙越小。对于a-SiC:H薄膜,UV-Vis光谱结果表明,CH4/SiH4流量比对a-SiC:H薄膜光学带隙的影响较为显著,随着混合气源中CH4浓度的增加,薄膜的光学带隙一直呈上升趋势。但是,a-SiC:H薄膜的光学带隙随着射频功率的增大略有下降。
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