论文摘要
本文采用高温固相法成功的合成了钒基荧光材料YVO4:Ga3+、YVO4:Cd2+、YVO4:Bi3+,对上述材料分别通过X射线衍射,扫描电子显微镜和荧光光谱分析等手段进行了表征测试,考察了掺杂浓度以及煅烧温度对样品发光强度的影响,初步讨论了三种荧光材料的发光机理。经过对镓掺杂钒酸钇材料的测试分析可知,高温固相法制备YVO4:Ga3+粉体属于四方晶系单相晶体。采用254纳米紫外光激发样品,在可见光区的发射峰位于350-700纳米,是发白光荧光粉。其最佳制备条件是掺杂浓度为2%,煅烧温度为1100℃。对干法制备的YVO4:Cd2+粉体的激发光谱和发射光谱进行了分析,最佳激发波长为254nm,发射峰波长范围在300-600nm,是蓝白光荧光粉。其中最佳煅烧温度是1000℃,最佳掺杂浓度为2%。随着掺杂浓度逐渐增大和煅烧温度不断升高,样品的发光强度呈现先增强再减弱的趋势。本文还以钒酸钇为基质,制备了YVO4:Bi3+发光材料。通过对此材料进行荧光光谱分析可知,在波长为254nm紫外光的激发下,得到了300-750nm的宽带发射峰,由属于钒酸钇基质的特征发射峰(300-425nm)和发光中心Bi3+离子的6s6p→6s2电子轨道跃迁所产生的发射峰(425-750nm)组成。YVO4:Bi3+在低电压下激发就有较高发光强度,因此在灯用荧光粉的应用方面具有现实意义。
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摘要Abstract第一章 前言1.1 发光材料概述1.1.1 发光材料概述1.1.2 发光材料的发光机理1.1.3 发光材料的种类1.2 发光材料常用的表征手段1.2.1 X射线衍射1.2.2 透射电子显微镜1.2.3 扫描电子显微镜1.2.4 分子荧光分析法4)的结构'>1.3 钒酸钇(YVO4)的结构1.4 钒酸钇发光材料的研究现状1.5 本论文的研究目的、研究内容及研究意义1.5.1 研究目的1.5.2 研究内容1.5.3 研究意义4:Ga3+的制备及发光性能研究'>第二章 白光发光材料YVO4:Ga3+的制备及发光性能研究2.1 引言2.2 实验试剂、实验仪器及制备方法2.2.1 实验试剂2.2.2 实验仪器2.2.3 制备方法2.3 测试分析与表征方法2.4 结果与讨论2.4.1 XRD谱图分析2.4.1.1 镓不同掺杂浓度的钒酸钇发光材料XRD图谱分析2.4.1.2 不同煅烧温度的钒酸钇发光材料的XRD图谱分析2.4.2 SEM图谱分析3+掺杂浓度对YVO4:Ga3+发光性能的影响'>2.4.3 Ga3+掺杂浓度对YVO4:Ga3+发光性能的影响4:Ga3+发光性能的影响'>2.4.4 煅烧温度对YVO4:Ga3+发光性能的影响2.5 发光机理探究2.6 本章小结4:Cd2+的制备及发光性能探究'>第三章 发光材料YVO4:Cd2+的制备及发光性能探究3.1 引言3.2 实验试剂、实验仪器及制备方法3.2.1 实验试剂3.2.2 实验仪器及表征设备3.2.3 实验方案3.3 表征方法3.3.1 X射线衍射(XRD)3.3.2 扫描电子显微镜(SEM)3.3.3 荧光光谱(PL)3.4 结果与讨论3.4.1 X射线衍射3.4.1.1 镉离子不同掺杂浓度的钒酸钇粉体的X射线衍射4:Cd2+的X射线衍射'>3.4.1.2 不同煅烧温度下YVO4:Cd2+的X射线衍射3.4.2 扫描电镜3.4.3 荧光光谱分析4:Cd2+发光强度的影响'>3.4.3.1 掺杂浓度对YVO4:Cd2+发光强度的影响4:Cd2+发光强度的影响'>3.4.3.2 煅烧温度对YVO4:Cd2+发光强度的影响3.5 发光机理初步讨论3.6 本章小结4:Bi3+发光材料的制备及其光学性能研究'>第四章 YVO4:Bi3+发光材料的制备及其光学性能研究4.1 引言4.2 实验试剂、实验仪器及实验方法4.2.1 实验试剂4.2.2 实验仪器4.2.3 实验方法4.3 测试表征手段4.3.1 X射线衍射法4.3.2 扫描电子显微镜4.3.3 紫外分析仪4.3.4 荧光光谱分析法4.4 结果与讨论4.4.1 X射线衍射4.4.1.1 铋离子不同掺杂浓度钒酸钇样品的X射线衍射4.4.1.2 铋掺杂钒酸钇在不同煅烧温度下的X射线衍射4.4.2 扫描电镜4.4.3 荧光光谱4:Bi3+发光强度的影响'>4.4.3.1 铋离子掺杂浓度对YVO4:Bi3+发光强度的影响4.4.3.1.1 铋离子不同掺杂浓度下的激发光谱分析4:Bi3+发射光谱的分析'>4.4.3.1.2 不同掺杂浓度的YVO4:Bi3+发射光谱的分析4:Bi3+发光强度的影响'>4.4.3.2 煅烧温度对材料YVO4:Bi3+发光强度的影响4:Bi3+发光强度的影响'>4.4.3.3 激发电压的不同对样品YVO4:Bi3+发光强度的影响4.5 发光机理探究4.6 本章小结第五章 结论致谢参考文献攻读硕士期间的科研成果
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