论文题目: 低温烧结PZT-PbO·WO3压电陶瓷性能研究
论文类型: 硕士论文
论文专业: 材料学
作者: 朱宏亮
导师: 孙清池
关键词: 压电陶瓷,低温烧结,掺杂,准同型相界,电性能
文献来源: 天津大学
发表年度: 2005
论文摘要: 为了降低PZT压电陶瓷的烧结温度,同时提高其综合性能,本论文以固态氧化物为原料,通过添加具有改性作用的低熔点化合物PbO·WO3,采用一次合成工艺制备PZT-PbO·WO3压电陶瓷。陶瓷材料在较低温度下实现液相烧结,液相烧结的过程有利于晶粒的致密化,提高材料的体积密度。实验主要研究PbO·WO3含量、准同型相界附近锆含量对陶瓷介电性能、压电性能、居里温度的影响,然后在此基础上进行了烧结温度、保温时间、极化工艺对材料性能影响的研究。粉末在900℃合成并保温2h,得到钙钛矿结构。研究发现:PbO·WO3最佳掺杂量为0.5% , Zr含量为52%时材料处于准同型相界内;Pb1.05(Zr0.52Ti0.48)O3- 0.5mol%(5PbO·WO3)压电陶瓷在1100℃保温时间为2小时条件下烧结而成,在120℃硅油中,2500V/mm场强下持续极化30分钟,样品达最佳性能。测得的最佳性能参数为:介电常数ε33T/ε0=1593,介电损耗tanδ=0.019,压电系数d33=363PC/N ,机电耦合系数KP=0.60,机械品质因数Qm=66,电阻率ρv=5.65×1012Ω·cm,居里温度Tc=361-367℃。通过和传统温度(1260℃)下烧结而成的PZT压电陶瓷综合性能的比较,本实验不仅降低了其烧结温度,而且提高了材料的综合性能。论文后期对陶瓷的低温液相烧结和改性原理进行了深入地探讨。本文通过X射线衍射(XRD)对合成后材料的晶相进行了分析;用扫描电子显微镜(SEM)观察样品表面的显微结构。
论文目录:
中文摘要
Abstract
第一章 绪论
1.1 前言
1.2 文献综述
1.2.1 压电效应的发现及其产生机理
1.2.2 压电陶瓷的发展及应用
1.2.3 低温烧结的提出以及发展过程
1.2.4 压电陶瓷电性能的影响因素
1.2.5 本课题研究的主要内容
第二章 实验方法
2.1 原料及设备
2.2 实验准备:PVA 粘合剂的配置
2.3 工艺选取
2.4 性能测试及仪器装备
第三章 结果与讨论
3.1 Pb_(1.05)(Zr_(0.52)Ti_(0.48))O_3-x%(5PbO·WO_3)系列的配方
3.1.1 样品的XRD 测试
3.1.2 PbO·WO_3 对陶瓷密度和电性能的影响
3.1.3 系列小结
3.2 Pb_(1.05)(Zr_xTi_(1-x))O_3-0.5mol%(5PbO·WO_3)系列的配方
3.2.1 样品的XRD 测试
3.2.2 样品的SEM 测试
3.2.3 样品的性能测试
3.3 烧结工艺对Pb_(1.05)(Zr_(0.52)Ti_(0.48))O_3-0.5mol%(5PbO·WO_3)压电陶瓷性能的影响
3.3.1 烧结温度的确定
3.3.2 保温时间的确定
3.4 极化条件的选择
3.4.1 极化场强的确定
3.4.2 极化温度的确定
3.4.3 极化时间的确定
3.5 电阻率与掺杂量和烧结温度的关系
3.6 低温烧结机理的探讨
3.6.1 烧结理论基础
3.6.2 PZT-PbO·WO_3陶瓷低温烧结机理
第四章 结论
参考文献
科研及发表论文情况
致谢
发布时间: 2007-04-17
参考文献
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