论文摘要
CuW合金具有良好的耐电弧侵蚀性、抗熔焊性能和高强度等优点,被广泛地用作各种高压断路器中的触头材料。随着电力系统不断发展,目前的CuW合金不能满足断路器向着大容量、高电压、低过压、小型化、智能化对触头材料综合性能的要求。本文采用熔渗法,分别制备了掺杂稀土氧化物的CuW合金、纳米CuW合金,研究了不同制备方法对CuW材料显微组织、静态性能及电击穿性能的影响。本实验条件下的结果表明:1.球磨混料4h已经使纳米级CuO粉末均匀的分布在W基体上;CuO的最佳还原方式为还原W-CuO混合粉末;最佳还原温度是800℃;在烧结温度为900℃时,W骨架基本形成;当CuO粉含量达到7-11wt%时,渗铜效果最好。纳米CuW合金晶粒细化且有大量的晶界的存在,电击穿发生晶界上,耐电压强度有所提高;2.采用液一固掺杂法在钨骨架中添加的CeO2分布均匀,添加量在0.2-1wt%,随着添加量的增加,粉末冶金法制备的CuW合金的硬度升高,而电导率变化不大;添加CeO2的CuW合金,电击穿发生在CeO2及其边缘;此时铜相的飞溅较小,击穿坑较浅;3.在击穿过程中,传统的CuW合金电击穿往往发生在富铜区域,铜液的喷溅较严重,且击穿坑较大;4.添加CeO2相的CuW合金和纳米CuW合金的平均截流值较小,平均电弧寿命长。
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摘要Abstract1 前言1.1 选题背景及意义1.2 电接触材料概论1.2.1 电触头的用途1.2.2 对电触头材料基本特性的要求1.3 CuW复合材料的研究现状1.4 纳米钨铜复合材料的研究现状1.5 掺杂稀土氧化物的钨铜复合材料的研究现状1.6 本课题的研究目的及内容1.6.1 研究目的1.6.2 研究内容2.材料制备与实验方法2.1 材料制备2.1.1 实验原料2.1.2 工艺流程2.1.3 材料制备中的工艺问题2.2 实验方法2.2.1 物理性能测试2.2.2 真空击穿性能测试2.2.3 金相试样制备3.采用纳米CuO粉末和W粉制备CuW合金3.1 球磨时间对粉末粒度的影响3.1.1 实验结果3.1.2 分析与讨论3.2 混料时间对CuO在W基体上分布的影响3.2.1 实验结果分析3.2.2 分析与讨论3.3 还原方式对CuO-W粉末还原效果的影响3.3.1 还原方式的确定3.3.2 还原温度的确定3.4 烧结温度对CuW合金组织与性能的影响3.4.1 烧结温度对W骨架形貌的影响3.4.2 烧结温度对CuW复合材料组织的影响3.4.3 烧结温度对CuW复合材料性能的影响3.5 CuO含量变化对CuW合金组织及性能的影响3.6 本章主要结论2对CuW合金组织与性能的影响'>4.CeO2对CuW合金组织与性能的影响2粉末的制备'>4.1 W-CeO2粉末的制备4.1.1 裂解粉末的形貌观察及物相分析3-CeO2粉末的形貌观察及物相分析'>4.1.2 WO3-CeO2粉末的形貌观察及物相分析2的CuW合金显微组织'>4.3 添加CeO2的CuW合金显微组织2的CuW合金性能测试'>4.4 添加CeO2的CuW合金性能测试4.5 本章主要结论5.CuW系材料真空放电性能的研究5.1 真空电击穿实验5.1.1 耐电压强度的测量方法5.1.2 截流值和电弧寿命的测量方法5.2 不同制备方法对CuW合金耐电压强度及截流值的影响5.3 本章小结6 结论致谢参考文献在校学习期间所取得的成绩
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