导读:本文包含了数字电路测试论文开题报告文献综述及选题提纲参考文献，主要关键词:GPIB,数字电路,自动测试,雷达接收
数字电路测试论文文献综述
张翔[1]（2019）在《基于GPIB的数字电路自动测试系统设计分析》一文中研究指出为了改善传统数字电路测试系统中的问题,提高测试系统自动化程度,实现基于GPIB的数字电路自动测试系统的设计。系统主要包括硬件部分及软件部分,硬件部分设计主要包括USB集线器、主控计算机、USB数字量I/O模块等,主控计算机利用USB接口实现数字量I/O模块测试仪器的控制,实现测试结果的处理及显示。测试系统软件以Lab平台为基础,使用图形化编程方式进行开发。软件包括数据库管理程序及应用程序构成,应用程序使用主模块结合功能插件方式。本文设计系统在雷达接收机数字电路自动测试中实现,具有稳定的性能。(本文来源于《电子设计工程》期刊2019年16期）
赵莹,宋在勇,赵航,李艳娟[2]（2019）在《数字电路阈值故障测试生成算法（英文）》一文中研究指出提出一种有效的数字电路故障阈值故障测试生成算法。首先构造出数字电路的阈值测试模型,通过这个模型可以区分出可接受故障和不可接受故障,然后使用成熟的固定故障测试生成算法得到不可接受故障的测试生成矢量。在ISCAS’85和ISCAS’89电路上的实验结果表明:该算法的故障覆盖率能达到96%,故障测试生成时间少于0. 019 s。(本文来源于《机床与液压》期刊2019年12期）
陈宇[3]（2019）在《X射线探测器数字电路及测试系统设计》一文中研究指出X射线探测系统作为同步辐射装置应用的一种,广泛应用于医疗、工业CT、关键零件的无损检测等领域。纵观X射线探测系统的发展,其关键技术基本被国外所掌握甚至是垄断,DECTRIS公司开发的整套面阵型探测系统售价甚至高达1000万美元以上。X射线探测器读出芯片作为该系统的核心部件之一,在整个系统中占据了至关重要的地位,高性能读出芯片亦是X射线探测领域热门的研究方向之一。X射线探测器读出芯片是一种数模混合类型的芯片,内部包含数字电路和模拟电路。模拟电路具有电荷积分、模数转换的功能,代表X射线粒子能量的信息最终以数字信号的形式输出,后级的数字电路则完成噪声抑制、数据写入、读出以及模式配置等工作。在全局时序的控制下,芯片各个子电路进行有序的配合,最终完成信息的读出。本文从实际工程应用的角度出发,着重叙述了X射线探测器读出芯片中数字电路的设计。读出芯片集成了修调电路、移位写入读出电路以及全局时序控制电路、SPI接口等数字电路。修调电路能够抑制前级模拟电路的噪声。移位写入和读出电路为芯片提供了数据输入输出的接口,芯片数据在输出的同时,外部输入的数据也被写入到芯片内部。外部写入的数据能周期性的刷新芯片像素单元的内部参数,使得芯片拥有了一定的抗辐射能力。在全局时序电路的控制下,芯片内部的数字电路与模拟电路以流水线的方式进行工作,流水线级数为两级。芯片的探测模式、以及与探测模式相关的参数则单独采用SPI从机接口进行配置。最终,芯片使用国内130nm工艺流片。为了便于芯片测试,设计了配套的高速数据采集传输系统和专用的测试板卡。高速数据采集与实时传输系统由FPGA、DDR2和USB3.0接口芯片组成。该系统能够同时采集24通道、速率为100Mbps的芯片输出数据,并通过USB3.0接口将数据实时上传至计算机,接口带宽最多可支持3颗X射线探测器读出芯片的级联测试。测试板卡则提供了一个低纹波、最大电流可达1A的双通道电源和用于高速信号传输的LVDS接口。在64MHz主时钟频率下,芯片的数模通信、读写功能、时序控制功能、修调功能均正常,校正后的各个像素单元响应的最大偏差为5、均匀性良好,单个像素单元数字电路功耗为40.6μW,各项功能均达到设计指标。(本文来源于《湘潭大学》期刊2019-05-01）
方田[4]（2019）在《数字集成电路测试系统驱动程序的设计及实现》一文中研究指出随着科学技术的进步,集成电路产业取得了飞速的发展。作为保证集成电路性能和质量的重要手段,集成电路测试技术得到了深入地研究。数字集成电路测试系统是对数字集成电路电气参数、工作性能测试的重要工具。随着集成电路集成度的提高和引脚的逐渐增多,一块集成电路所提供的功能日益庞大,集成电路测试系统需要能提供更强大的测试功能以满足测试需求。本文实现了数字集成电路测试系统驱动程序的设计,可有效地配合界面实现对测试机硬件系统的控制,完成对数字集成电路的相应测试。本文采用分层设计的思想,使驱动程序具有更好的扩展性和维护性。本文对数字集成电路测试系统驱动程序进行了以下研究:(1)本文分析了数字集成电路测试中直流参数测试和功能测试的测试过程,总结了驱动程序中驱动接口总体的调用流程,并针对硬件设备上测试板卡提供的存储空间不足的情况,设计了时序集参数动态导入和历史记录参数动态读取的软件流程,以支持更多的向量集进行功能测试。根据集成电路测试原理和上述测试流程,本文总结了测试过程中所需的功能接口,并完成了驱动程序的框架设计。(2)本文将驱动程序分为了器件层、功能层和系统层。其中器件层负责提取测试板卡上基础器件类,并提供各器件类的操作方法;功能层中通过各种器件对象的逻辑搭配与组合,实现数字集成电路测试系统需要的功能模块;系统层负责管理测试机中的硬件资源,并向上层程序提供可调用的驱动接口和数据传输功能。(3)在总线传输接口设计方面,本文采用了接口与实现分离的编程思想和依赖注入的设计方式。驱动程序给出通用传输接口的抽象类,并在具体的总线传输类中完成通用传输接口的实现。这种设计使驱动程序支持多种总线协议,增加了驱动程序的可移植性。(本文来源于《电子科技大学》期刊2019-04-01）
孟祥,赵莹,孙永恒,李艳娟[5]（2019）在《基于叁值神经网络和混沌搜索的数字电路串扰时滞故障测试生成算法（英文）》一文中研究指出提出了一种有效的串扰时滞故障测试生成算法,该算法使用了叁值神经网络理论和混沌搜索方法。首先在电路的受害点处把电路分成两个部分,对第一部分,可以得到时滞时间表达式;对第二部分,使用混沌搜索和叁值神经网络网络的方法把故障传播到输出端。最后,能够把故障传播到输出端且使时滞时间表达式取最大值的输入矢量就是串扰时滞故障的最优测试矢量。实验结果表明该算法能够容易地得到故障输入测试矢量,平均测试生成时间小于0. 25μs,故障覆盖率能够达到98. 2%。(本文来源于《机床与液压》期刊2019年06期）
贾谦,张瑞,张涛,尹萍[6]（2019）在《高速数字集成电路ATE测试中的信道损耗补偿》一文中研究指出在高速数字集成电路的测试过程中,自动测试机台ATE和测试夹具扮演了非常重要的角色。由ATE脚端界面电路带宽限制和测试夹具损耗所形成的信道损耗对测试结果的准确性有重大影响。在本文中笔者针对两种信道损耗补偿的方法——去嵌和均衡,进行了研究并给出一些应用实例和结果。集成电路测试是整个集成电路生产制造流程中非常重要的一环,对于数据速率高达几十Gbps的高速数(本文来源于《电子世界》期刊2019年03期）
张鹏涛,宋会良,李京华[7]（2018）在《数字电子电路测试技术》一文中研究指出近年来我国的科学技术得到了一定程度的发展,使得芯片的体积也变得越来越小,内部数字电子电路的设计也变得越来越复杂,给予数字电子电路的测试工作也带来了一定的难度。借助于一种安全可靠的测试模式,还能够促进我国的数字电子电路行业得到更进一步的发展,并对于产品质量的提升有着一定的积极意义。本文主要就数字电子电路的测试技术进行了深入的探究与分析。(本文来源于《电子技术与软件工程》期刊2018年11期）
邢连营[8]（2018）在《一种基于Labview的数字电路自动测试系统设计》一文中研究指出介绍了一种基于Labview的数字电路自动测试系统设计,运用Labview软件,实现对数字电路的自动测试软件设计。其自动测试系统利用测试夹具对数字电路进行准确的指标测试,通过指标测试,可以早期发现有问题的数字电路组件。该自动测试系统提高了数字电路的测试效率和可靠性。(本文来源于《电子技术与软件工程》期刊2018年10期）
张建文[9]（2018）在《基于ARM的数字集成电路测试系统的研究》一文中研究指出为了丰富数字集成电路测试系统功能,实现上位机数据独立传送,本文采用ARM控制器,设计一套数字集成电路测试系统。首先,对ARM处理器进行简要概述,其次,明确设计目标,提出系统设计方案,最后,制定系统调试步骤,并对其调试结果做出分析。调试结果表明:本文提出的数字集成电流测试系统设计方案满足设计要求。(本文来源于《中国新技术新产品》期刊2018年09期）
于建华,陈剑,李嘉[10]（2018）在《基于数字方式实现的锁相环自测试电路》一文中研究指出时钟抖动、时钟精度和锁相环倍频功能是否符合预定规格是评价锁相环好坏的重要参数,但高精度的锁相环对应的测试设备昂贵、测试周期长且需要专业人士进行操作,大大增加了中小型设计公司项目的测试成本和时间。本文介绍了一种自主研发的数字电路,该电路采用纯数字方式实现锁相环(PLL)的功能测量、精度测量(<0.1%)和时钟抖动测量(峰-峰值Jpp<100ps,均方根值Jr ms<15ps)。(本文来源于《中国集成电路》期刊2018年05期）
数字电路测试论文开题报告
（1）论文研究背景及目的
此处内容要求：
首先简单简介论文所研究问题的基本概念和背景，再而简单明了地指出论文所要研究解决的具体问题，并提出你的论文准备的观点或解决方法。
写法范例：
提出一种有效的数字电路故障阈值故障测试生成算法。首先构造出数字电路的阈值测试模型,通过这个模型可以区分出可接受故障和不可接受故障,然后使用成熟的固定故障测试生成算法得到不可接受故障的测试生成矢量。在ISCAS’85和ISCAS’89电路上的实验结果表明:该算法的故障覆盖率能达到96%,故障测试生成时间少于0. 019 s。
（2）本文研究方法
调查法：该方法是有目的、有系统的搜集有关研究对象的具体信息。
观察法：用自己的感官和辅助工具直接观察研究对象从而得到有关信息。
实验法：通过主支变革、控制研究对象来发现与确认事物间的因果关系。
文献研究法：通过调查文献来获得资料，从而全面的、正确的了解掌握研究方法。
实证研究法：依据现有的科学理论和实践的需要提出设计。
定性分析法：对研究对象进行“质”的方面的研究，这个方法需要计算的数据较少。
定量分析法：通过具体的数字，使人们对研究对象的认识进一步精确化。
跨学科研究法：运用多学科的理论、方法和成果从整体上对某一课题进行研究。
功能分析法：这是社会科学用来分析社会现象的一种方法，从某一功能出发研究多个方面的影响。
模拟法：通过创设一个与原型相似的模型来间接研究原型某种特性的一种形容方法。
数字电路测试论文参考文献
[1].张翔.基于GPIB的数字电路自动测试系统设计分析[J].电子设计工程.2019
[2].赵莹,宋在勇,赵航,李艳娟.数字电路阈值故障测试生成算法（英文）[J].机床与液压.2019
[3].陈宇.X射线探测器数字电路及测试系统设计[D].湘潭大学.2019
[4].方田.数字集成电路测试系统驱动程序的设计及实现[D].电子科技大学.2019
[5].孟祥,赵莹,孙永恒,李艳娟.基于叁值神经网络和混沌搜索的数字电路串扰时滞故障测试生成算法（英文）[J].机床与液压.2019
[6].贾谦,张瑞,张涛,尹萍.高速数字集成电路ATE测试中的信道损耗补偿[J].电子世界.2019
[7].张鹏涛,宋会良,李京华.数字电子电路测试技术[J].电子技术与软件工程.2018
[8].邢连营.一种基于Labview的数字电路自动测试系统设计[J].电子技术与软件工程.2018
[9].张建文.基于ARM的数字集成电路测试系统的研究[J].中国新技术新产品.2018
[10].于建华,陈剑,李嘉.基于数字方式实现的锁相环自测试电路[J].中国集成电路.2018