本文主要研究内容
作者董笑涵,赵志伟,翁正进,方勇,卢昱,陈欣,高浚玮,袁迪,江和龙（2019）在《沉积物中基于SiO2与Fe3O4粉末的复合体系的导电性能的研究》一文中研究指出：为了研究湖泊底泥沉积物在不同参数情况下的电阻率变化规律,对不同尺寸的二氧化硅（SiO2）颗粒和四氧化三铁（Fe3O4）颗粒按照不同比例进行压片构成复合体系粉末,并利用XRD和SEM分析该复合体系的表面形貌和内部结构。结果表明,随着外加压强从2 MPa增大到20 MPa,SiO2/Fe3O4复合体系的电阻率下降趋势逐渐变缓,不同复合体系电阻率下降的程度不同,且压片后无新的晶相产生。SiO2/Fe3O4复合粉末体系的电阻率随着组分Fe3O4比例的增加而减小,其变化规律还可能与不同尺寸SiO2纳米颗粒的团聚现象有关。该研究的结果为沉积物中电流调控提供了一定的理论依据,对于修复沉积物污染具有一定的指导意义。
Abstract
wei le yan jiu hu bo de ni chen ji wu zai bu tong can shu qing kuang xia de dian zu lv bian hua gui lv ,dui bu tong che cun de er yang hua gui （SiO2）ke li he si yang hua san tie （Fe3O4）ke li an zhao bu tong bi li jin hang ya pian gou cheng fu ge ti ji fen mo ,bing li yong XRDhe SEMfen xi gai fu ge ti ji de biao mian xing mao he nei bu jie gou 。jie guo biao ming ,sui zhao wai jia ya jiang cong 2 MPazeng da dao 20 MPa,SiO2/Fe3O4fu ge ti ji de dian zu lv xia jiang qu shi zhu jian bian huan ,bu tong fu ge ti ji dian zu lv xia jiang de cheng du bu tong ,ju ya pian hou mo xin de jing xiang chan sheng 。SiO2/Fe3O4fu ge fen mo ti ji de dian zu lv sui zhao zu fen Fe3O4bi li de zeng jia er jian xiao ,ji bian hua gui lv hai ke neng yu bu tong che cun SiO2na mi ke li de tuan ju xian xiang you guan 。gai yan jiu de jie guo wei chen ji wu zhong dian liu diao kong di gong le yi ding de li lun yi ju ,dui yu xiu fu chen ji wu wu ran ju you yi ding de zhi dao yi yi 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自电子器件的董笑涵,赵志伟,翁正进,方勇,卢昱,陈欣,高浚玮,袁迪,江和龙，发表于刊物电子器件2019年03期论文，是一篇关于半导体论文,电阻率论文,压片法论文,沉积物论文,纳米颗粒论文,电子器件2019年03期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自电子器件2019年03期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。