高电位梯度氧化锌压敏陶瓷的制备、显微组织结构及电性能研究

高电位梯度氧化锌压敏陶瓷的制备、显微组织结构及电性能研究

论文摘要

本文通过高能球磨法获得ZnO压敏纳米粉料,细致研究800-1000℃烧结条件下,高能球磨和掺杂稀土氧化物Y2O3、Dy2O3、Er2O3提高电性能的机理,首次在1000℃低温烧结,制备出电位梯度超过400V/mm、通流能力大于230J/cm3,残压比小于1.65的高性能ZnO压敏陶瓷。 首先研究了烧结温度及球磨时间对高能球磨压敏陶瓷的电性能、致密度及显微组织结构的影响;球磨时间对粉料粒度和结构的影响以及钢球对粉料的污染程度。研究结果表明,随烧结温度提高,压敏陶瓷电位梯度、非线性系数及致密度逐渐降低降低,而漏电流逐渐升高。富铋相逐渐蒸发减少或消失,导致致密度降低,这也是高温烧结区间(1100-1300℃)非线性系数陡然降低和漏电流骤然升高的根本原因。高能球磨使晶格发生严重畸变,大半径离子在ZnO晶粒内固溶量增加,使样品势垒高度(ΦB)、施主浓度(Nd)及界面态密度(Ns)增加,势垒宽度(ω)降低,因而改善了电性能。随高能球磨时间延长,效果愈显著。压敏陶瓷致密度随球磨时间的增加而升高,主要是由于高能球磨细化了晶粒尺寸,使晶格畸变能增加,显著提高了烧结驱动力和烧结动力学因子,缩短了反应扩散距离;烧结出现的液相增加了反应相间的接触面积,加速了传质速度,促进了相间反应。高能球磨引起的压敏陶瓷晶粒细化主要发生在0-5小时阶段且烧结温度越低,效果越明显。高能球磨5h后,粉料颗粒尺寸由1.50μm减小到0.42μm并发生聚集,显著增强了粉末的烧结性。20h高能球磨后,粉料ZnO平均晶粒尺寸由120nm减少至59nm。高能球磨后,粉料衍射峰明显宽化,但未发生相变。在本文试验条件下,钢球Fe元素污染对电性能不会造成危害。 为了提高压敏电位梯度及改善综合性能,系统地研究了高能球磨并低温烧结下,掺杂稀土氧化物Y2O3、Dy2O3、Er2O3对ZnO压敏陶瓷性能的影响机理。 ZnO压敏陶瓷加入Y2O3后,电位梯度有显著提高,温度越低,提高的效果越明显。随Y2O3含量的增加,电位梯度逐渐增大;非线性系数呈升高趋势;漏电流比未加Y2O3的漏电流低,且随Y2O3含量的增加,漏电流降低平缓;900-1000℃试样致密度大于未加Y2O3的,且随着Y2O3含量增加,致密度增大,800℃试样致密度呈连续降低趋势。综合考虑压敏陶瓷的电性能指标及致密度因素,800℃烧成的掺有Y2O3压敏陶瓷的综合性能最好。掺杂Y2O3的ZnO压敏陶瓷在800℃烧结时,结构出现四相,即ZnO、γ-Bi2O3、Zn2.33Sb0.67O4及Y2O3相。Y2O3相存在于ZnO晶界上,阻止了ZnO晶粒的长大。随Y2O3含量的增加,ZnO晶

论文目录

  • 第一章 绪论
  • 1.1 ZnO压敏陶瓷介绍
  • 1.1.1 压敏电阻简介
  • 1.1.2 ZnO压敏陶瓷的I-V特性及主要性能参数
  • 1.1.3 ZnO压敏陶瓷的微观结构
  • 1.1.4 ZnO压敏陶瓷在工程中的应用
  • 1.2 高压ZnO压敏陶瓷研究进展
  • 1.2.1 基础理论的研究进展
  • 1.2.2 制备工艺技术研究进展
  • 1.2.3 技术发展方向
  • 1.3 高压ZnO压敏陶瓷的研究中有待进一步解决的问题
  • 1.4 本文的研究难点、思路、目标及意义
  • 1.4.1 本文的研究难点、思路及目标
  • 1.4.2 本研究的意义
  • 1.5 本文的研究内容及课题来源
  • 1.5.1 研究内容
  • 1.5.2 课题来源
  • 1.6 本文的技术路线和研究方法
  • 1.6.1 技术路线
  • 1.6.2 研究方法
  • 参考文献
  • 第二章 高能球磨法制备ZnO压敏陶瓷的低温烧结工艺、显微组织结构及电性能研究
  • 2.1 前言
  • 2.2 试验条件
  • 2.3 烧结温度对电性能及致密度的影响
  • 2.3.1 试验结果
  • 2.3.2 结果分析
  • 2.4 高能球磨粉料及烧结试样的微观组织结构
  • 2.4.1 粉料
  • 2.4.2 烧结试样
  • 2.5 球磨对晶界特性参数的影响
  • 2.5.1 计算方法及结果
  • 2.5.2 结果分析
  • 2.6 球磨污染程度
  • 2.7 1100-1300℃烧结区间ZnO压敏陶瓷电性能显著下降的原因
  • 2.8 本章小结
  • 参考文献
  • 2O3对ZnO压敏陶瓷显微组织结构及电性能的影响'>第三章 掺杂Y2O3对ZnO压敏陶瓷显微组织结构及电性能的影响
  • 3.1 前言
  • 3.2 试验条件
  • 2O3对电性能及致密度的影响'>3.3 掺杂Y2O3对电性能及致密度的影响
  • 3.3.1 试验结果
  • 3.3.2 分析
  • 2O3压敏陶瓷的显微组织结构'>3.4 800℃烧结掺杂Y2O3压敏陶瓷的显微组织结构
  • 3.4.1 相结构
  • 3.4.2 相的分布
  • 3.4.3 元素面分布
  • 3.4.4 晶粒尺寸
  • 2O3对晶界特性参数的影响'>3.5 掺杂Y2O3对晶界特性参数的影响
  • 3.5.1 计算结果
  • 3.5.2 结果分析
  • 3.6 本章小结
  • 参考文献
  • 2O3对ZnO压敏陶瓷显微组织结构及电性能的影响'>第四章 掺杂Dy2O3对ZnO压敏陶瓷显微组织结构及电性能的影响
  • 4.1 试验条件
  • 2O3对电性能及致密度的影响'>4.2 掺杂Dy2O3对电性能及致密度的影响
  • 4.2.1 试验结果
  • 4.2.2 分析
  • 2O3压敏陶瓷的显微组织结构、电性能及致密度的影响'>4.3 冷却速度对800℃烧结掺杂Dy2O3压敏陶瓷的显微组织结构、电性能及致密度的影响
  • 4.3.1 冷却速度的变化
  • 4.3.2 电性能及致密度
  • 4.3.3 相结构
  • 4.3.4 显微组织及相分布
  • 4.3.5 富铋相的变化
  • 4.3.6 冷却速度对晶界特性参数的影响
  • 4.4 本章小结
  • 参考文献
  • 2O3对ZnO压敏陶瓷显微组织结构及电性能的影响'>第五章 掺杂Er2O3对ZnO压敏陶瓷显微组织结构及电性能的影响
  • 5.1 试验条件
  • 2O3对无Ni压敏陶瓷电性能及致密度的影响'>5.2 掺杂Er2O3对无Ni压敏陶瓷电性能及致密度的影响
  • 5.2.1 试验结果
  • 5.2.2 分析
  • 2O3对含Ni压敏陶瓷电性能及致密度的影响'>5.3 掺杂Er2O3对含Ni压敏陶瓷电性能及致密度的影响
  • 5.3.1 试验结果
  • 5.3.2 分析
  • 2O3含Ni压敏陶瓷的显微组织结构'>5.4 掺杂Er2O3含Ni压敏陶瓷的显微组织结构
  • 5.4.1 相结构
  • 5.4.2 显微组织及相分布
  • 2O3对晶界特性参数的影响'>5.5 掺杂Er2O3对晶界特性参数的影响
  • 5.5.1 计算结果
  • 5.5.2 分析
  • 5.6 本章小结
  • 参考文献
  • 第六章 通流能力试验
  • 6.1 前言
  • 6.2 试样制备与测试
  • 6.2.1 制备工艺流程
  • 6.2.2 测试
  • 6.3 试验结果及分析
  • 6.4 本章小结
  • 参考文献
  • 第七章 结论
  • 7.1 结论
  • 7.2 本文的创新点
  • 7.3 本文的不足
  • 作者攻读博士学位期间发表的论文与申请的专利
  • 致谢
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