ECR-PECVD法低温沉积Poly-Si薄膜的研究

ECR-PECVD法低温沉积Poly-Si薄膜的研究

论文摘要

多晶硅(Poly-Si)薄膜在长波段具有高光敏性,对可见光能有效吸收,且与非晶硅相比具有较高的转换率和迁移率,其光电效率不会随光照时间的延续而衰减;与单晶硅相比,Poly-Si可在玻璃等廉价衬底上大面积低温制备,具有较低的制作成本,因此被公认为高效、低耗的理想光伏器件材料,目前已成为制备太阳能电池的热点材料之一。此外,Poly-Si也是制作传感器、薄膜晶体管(TFT)等器件的新型半导体替代材料。当前生产Poly-Si的方法主要有化学气相沉积法(CVD)、等离子体增强化学气相沉积法(PECVD)、液相外延法(LPE)、激光晶化法(LIC)、固相晶化法(SPC)和等离子溅射法等。在诸多方法中,由于PECVD具有实验参数控制简单,沉积温度低,工艺成熟,制备的薄膜质量高,较适合大规模工业化生产的特点,越来越受到人们的重视。实验采用自行设计研制的电子回旋共振等离子体增强化学气相沉积(ECR-PECVD)设备,以SiH4(氩气稀释率95%,即SiH4:Ar=1:19)为气源,在硅和普通玻璃衬底上沉积Poly-Si薄膜。使用微波源,利用ECR在低气压下产生非平衡等离子体,使SiH4易于分解沉积,大大降低了沉积温度(<600℃);以SiH4和H2为反应气体可以减少薄膜中卤化物的含量,用Ar气稀释SiH4可以辅助反应物放电,并有利于刻蚀薄膜中能量较弱的Si-Si键形成高质量的Poly-Si薄膜。在玻璃衬底上很难直接沉积质量较高的Poly-Si薄膜。主要原因是玻璃相对Poly-Si薄膜来说为非晶异质衬底,衬底结构对薄膜的沉积影响很大。为了解决这个问题,本文在玻璃衬底和后续Poly-Si薄膜之间引入了中间层。利用高能电子衍射(RHEED),X射线衍射谱(XRD),拉曼光谱(Raman)和透射电镜(TEM),研究了中间层对后续Poly-Si薄膜生长的影响,得出了低温沉积Poly-Si薄膜的适宜工艺参数。

论文目录

  • 摘要
  • Abstract
  • 引言
  • 1 Poly-Si薄膜的主要应用
  • 1.1 Poly-Si太阳能电池
  • 1.2 Poly-Si薄膜晶体管
  • 1.3 Poly-Si薄膜在传感领域内的应用
  • 2 Poly-Si薄膜的成核理论和影响因素
  • 2.1 薄膜的成核理论
  • 2.2 薄膜的生长模式
  • 2.2.1 核生长模式
  • 2.2.2 层状生长模式
  • 2.2.3 层核生长模式
  • 2.3 影响Poly-Si薄膜结构和成核的因素
  • 2.3.1 沉积速率
  • 2.3.2 衬底温度
  • 2.3.3 沉积原子的动能
  • 2.3.4 衬底结构
  • 2.3.5 反应室真空度
  • 2.4 小结
  • 3 材料的制备方法和分析技术
  • 3.1 直接接沉积Poly-Si薄膜
  • 3.1.1 等离子体增强化学气相沉积法
  • 3.1.2 热丝化学气相沉积法
  • 3.1.3 低压化学气相沉积法(LPCVD)
  • 3.1.4 液相外延法(LPE)
  • 3.2 间接沉积Poly-Si薄膜
  • 3.2.1 固相晶化法(SPC)
  • 3.2.2 部分掺杂法
  • 3.2.3 快速退火法(RTA)
  • 3.2.4 金属诱导固相晶化法(MISPC)
  • 3.2.5 激光晶化法(LIC)
  • 3.3 Poly-Si薄膜的表征
  • 3.3.1 扫描电镜(SEM)
  • 3.3.2 透射电子显微镜(TEM)
  • 3.3.3 X射线衍射(XRD)
  • 3.3.4 反射高能电子衍射(RHEED)
  • 3.3.5 原子力显微镜(AFM)
  • 3.3.6 拉曼光谱(Raman)
  • 3.4 小结
  • 4 实验方法
  • 4.1 ECR低温等离子体源的产生原理
  • 4.2 ECR-PECVD系统(ESPD)
  • 4.3 样品的制备
  • 4.3.1 衬底准备
  • 4.3.2 实验设计
  • 4.3.3 实验步骤
  • 5 实验结果及讨论
  • 5.1 在硅衬底上沉积Poly-Si薄膜
  • 2流量对Poly-Si薄膜的影响'>5.1.1 H2流量对Poly-Si薄膜的影响
  • 4流量对Poly-Si薄膜的影响'>5.1.2 SiH4流量对Poly-Si薄膜的影响
  • 5.1.3 温度对Poly-Si薄膜晶化的影响
  • 5.2 在玻璃衬底上沉积Poly-Si薄膜
  • 5.2.1 直接在玻璃衬底上沉积Poly-Si薄膜
  • 5.2.2 中间层的作用
  • 5.2.3 中间层沉积温度对后续Poly-Si薄膜的影响
  • 2流量对后续Poly-Si薄膜的影响'>5.2.4 中间层H2流量对后续Poly-Si薄膜的影响
  • 5.2.6 中间层功率对后续Poly-Si薄膜的影响
  • 5.3 小结
  • 结论
  • 攻读硕士学位期间发表学术论文情况
  • 致谢
  • 相关论文文献

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