液晶驱动芯片测试程序开发及优化方法研究

论文摘要

本论文的研究内容是针对近年来国内新兴的液晶显示驱动芯片市场不断拓展和国内业务量急剧增多的实际情况,以该类芯片的测试理论为基础,结合现代集成电路测试主流测试方法以及多项工程应用中的实际经验,为该类型芯片的测试评价提出了一套高效率、低成本的测试解决方案。论文的主要工作如下:综合分析FPD（Flat Panel Display）市场带动下中国LCD（liquid crystal Display）驱动行业的实际情况和相关需求,重点明确了以TFT（ThinFilmTransistor）-LCD为代表应用领域的主流方向。针对驱动芯片结构的特殊性结合测试方法展开讨论。文章分析了各类LCD驱动芯片的特点,从测试重点难点入手,介绍了LCD芯片主要的测试项目。针对液晶驱动芯片的主要特点,介绍了高速数字接口,Gamma校正原理和内置振荡器以及电荷泵的相关知识,说明了如何在测试验证其功能。针对显示驱动电路特殊的测试需求,选取了合理的测试评价指标,利用该指标体系对显示驱动电路进行评价,既可以保证测试质量,又能提高测试效率。灰阶测试和其衍生出来的一些新的测试项目,提出了活用内部负载电路（ActiveLoad）和数字采样器（Digitizer）进行多种测试的概念,用功能测试替代了传统的DC测试。另外针对电源电路对功耗限制,通过改进电源功耗测试方法,使得电流测试更为准确。文章提到了如何较高速全面的进行IDDQ测试,该方法通过切换自动测试设备（ATE）设备内部开关的开合分隔芯片和ATE,使得电流测试能在测试向量运行同时的某个时间点进行,在提高了测试覆盖率的同时也保证了测试时间,两者取得了很好的平衡。针对测试程序调试过程中遇到的实际工程问题,本文作了一定程度上的归纳与总结。能够提升测试验证阶段的工作效率本文以横河电机公司专业的LCD测试系统ST6730为例进行介绍,着重介绍了测试平台的特点和如何高效的使用测试资源来优化测试方法。本文所提到的一系列方案已经在国内的相关设计公司广泛应用并认可,并取得了令人满意的效果。

论文目录

• 目录
• 摘要
• Abstract
• 第一章 绪论
• 1.1 课题背景和意义
• 1.2 发展及研究现状
• 1.3 研究内容
• 1.4 论文结构
• 第二章 TFTLCD驱动芯片概况与测试项目介绍
• 2.1 什么是液晶
• 2.2 液晶面板驱动方式
• 2.3 几种常见的液晶驱动芯片介绍
• 第三章 液晶驱动芯片的测试需求和测试方法
• 3.1 各类芯片的逻辑结构和技术特点
• 3.1.1 芯片分类
• 3.1.2 芯片功能
• 3.1.3 技术指标
• 3.1.4 封装形式
• 3.2 液晶驱动芯片的测试方法
• 3.2.1 LCD Driver测试难点以及对测试系统的要求
• 3.2.2 液晶驱动IC测试项目和常用测试方法
• 第四章 TFT-LCD驱动芯片测试程序开发和优化
• 4.1 如何了解芯片的规格以及技术指标
• 4.2 如何选择适当的测试系统
• 4.2.1 硬件资源介绍
• 4.2.2 软件环境
• 4.3 Yokogawa TDL测试程序开发
• 4.4 探针卡制作
• 4.5 测试程序调试
• 4.6 测试程序优化方案*
• 第五章 归纳与小结
• 参考文献
• 致谢