高性能北桥芯片中存储器接口的功能验证

论文摘要

随着现代计算机系统的高速发展， CPU与内存之间数据交换速率要求越来越高，CPU与内存之间的速度差异，已经成为制约整个系统性能的瓶颈。使用集成于北桥芯片中的存储器接口，为CPU与内存之间提供数据交换通路，是当前解决这一问题主流方法。本文的研究对象是一款X高性能北桥芯片中存储器接口。论文从验证方法学基础学习出发，介绍了X北桥芯片基本架构，研究了其中存储器接口的相关内容，在充分了解存储器接口相关时序和设计的基础上搭建了验证平台，提取了全面的功能测试点，对其存储器接口的ROM接口，异步DRAM接口，SDARM接口以及检验功能进行了功能验证，并对验证结果进行了分析。验证结果表明，该存储器接口的功能验证方法是可行的，对高性能存储器接口设计和验证工作具有一定的参考价值。

论文目录

• 摘要
• Abstract
• 第一章 绪论
• 1.1 课题研究背景和意义
• 1.2 验证技术简介
• 1.3 课题来源与论文章节安排
• 第二章 验证技术和方法
• 2.1 验证技术介绍
• 2.1.1 验证方法
• 2.1.2 验证层次介绍
• 2.1.3 观测点细节
• 2.2 验证周期
• 2.3 验证技术研究现状
• 2.4 本章小结
• 第三章 高性能北桥芯片存储器接口
• 3.1 X 桥片简介
• 3.2 X 桥片存储器接口
• 3.2.1 地址通路
• 3.2.2 数据通路
• 3.2.3 存储控制接口
• 3.2.4 检纠错机制
• 3.3 本章小结
• 第四章 存储器接口功能验证
• 4.1 功能测试点
• 4.2 验证流程
• 4.3 验证平台的搭建
• 4.4 测试激励的生成
• 4.5 验证结果分析
• 4.5.1 ROM 接口基本读操作验证
• 4.5.2 异步 DRAM 接口基本操作验证
• 4.5.3 SDRAM 接口基本操作验证
• 4.5.4 检验功能验证
• 4.6 本章小结
• 第五章 总结
• 5.1 论文总结
• 5.2 进一步工作
• 致谢
• 参考文献