微光像增强器操作寿命测试技术研究

论文摘要

本文回顾了夜视技术中使用的微光像增强器的发展过程,指出了超二代微光像增强器和一、二代像增强器的主要区别。重点阐述了超二代微光像增强器的操作寿命测试原理和方法;采用回归分析建立操作寿命回归方程,利用最小二乘法,通过指数拟合,把指数方程线性化,得到预测超二代微光像增强器操作寿命的线性回归方程,计算出微光像增强器的预测操作寿命时间。此外还介绍了超二代像增强器操作寿命测试仪的研制过程;微光像增强器的阴极光电流、阴极灵敏度等高压微电流测量、计算;以及实际研制过程中遇到的问题和解决方法。

论文目录

• 摘要
• Abstract
• 目录
• 1. 绪论
• 1.1问题的提出和意义
• 1.2 问题的背景及分析
• 1.2.1 背景
• 1.2.2 要解决的问题
• 1.2.3 意义和效益
• 1.2.4 解决问题的思路和方法
• 1.3 取得的成果
• 2. 微光像增强器的基本原理
• 2.1 微光像增强器典型结构和技术特点
• 2.1.1 零代管
• 2.1.2 一代管
• 2.1.3 二代管
• 2.1.4 三代管
• 2.1.5 二代半与超二代
• 2.1.6 超二代微光成像技术的发展
• 2.1.7 杂交管
• 2.1.8 选通管
• 2.2 主要特性参数
• 2.2.1 分类
• 2.2.2 光阴极灵敏度
• 2.2.3 亮度增益
• 2.2.4 背景等效输入照度
• 2.2.5 对比度传递特性
• 2.2.6 信噪比传递特性
• 2.2.7 操作寿命试验
• 3. 微光像增强器操作寿命的测试原理
• 3.1 像增强器的增益
• 3.2 影响二代像增强器操作寿命的主要因素
• 3.3 超二代微光像增强器的操作寿命规律和操作寿命试验
• 4. 一元线性回归和最小二乘法
• 4.1 一元线性回归方程的求解
• 4.2 函数的线性化
• 4.2.1 幂函数的线性化
• 4.2.2 指数函数的线性化
• 4.3 超二代像增强器操作寿命的回归方程和寿命预测
• 5. 操作寿命试验
• 5.1 主要参数的测量方法
• 5.1.1 阴极光电流
• 5.1.2 白光灵敏度
• 5.1.3 阳极漏电流
• 5.1.4 MCP电流增益
• 5.1.5 阴极漏电流
• 5.1.6 MCP体电阻
• 5.1.7 暗电流密度
• 5.2 微电流测量的方法
• 5.2.1 电路设计中的要考虑的问题
• 5.2.2 微电流测量电路设计
• 6. 操作寿命测试仪系统
• 6.1 系统组成
• 6.2 工作原理
• 7. 实际测试
• 7.1 操作寿命测量
• 7.2 操作寿命预测
• 7.3 误差分析
• 8. 结束语
• 致谢
• 参考文献