本文主要研究内容
作者雷志军,蒋炯炜,郭刚,薛海卫,雷志广（2019）在《DSP处理器单粒子翻转率测试系统的研制》一文中研究指出：航天器及其内部元器件在太空中会受到单粒子效应(SEE)带来的威胁,因此航天用电子器件在装备前必须进行抗SEE能力的测试评估。针对传统测试方法存在的测试系统程序容易在辐照过程崩溃、统计翻转数不准确、单粒子闩锁(SEL)辨别不清晰和忽略内核翻转统计等问题,设计了一种测试系统,通过片外加载与运行程序从而减少因辐照导致片内程序异常的现象;通过片外主控电路统计被测电路翻转数使统计翻转结果准确;通过主控电路控制被测电路时钟供给排除因频率增加导致电流过大而误判发生SEL的情况;通过内核指令集统计内核翻转数。实验结果表明,该测试系统可以实时全面地监测数字信号处理器(DSP)的SEE,并有效防止辐照实验器件(DUT)因SEL而失效。
Abstract
hang tian qi ji ji nei bu yuan qi jian zai tai kong zhong hui shou dao chan li zi xiao ying (SEE)dai lai de wei xie ,yin ci hang tian yong dian zi qi jian zai zhuang bei qian bi xu jin hang kang SEEneng li de ce shi ping gu 。zhen dui chuan tong ce shi fang fa cun zai de ce shi ji tong cheng xu rong yi zai fu zhao guo cheng beng hui 、tong ji fan zhuai shu bu zhun que 、chan li zi shuan suo (SEL)bian bie bu qing xi he hu lve nei he fan zhuai tong ji deng wen ti ,she ji le yi chong ce shi ji tong ,tong guo pian wai jia zai yu yun hang cheng xu cong er jian shao yin fu zhao dao zhi pian nei cheng xu yi chang de xian xiang ;tong guo pian wai zhu kong dian lu tong ji bei ce dian lu fan zhuai shu shi tong ji fan zhuai jie guo zhun que ;tong guo zhu kong dian lu kong zhi bei ce dian lu shi zhong gong gei pai chu yin pin lv zeng jia dao zhi dian liu guo da er wu pan fa sheng SELde qing kuang ;tong guo nei he zhi ling ji tong ji nei he fan zhuai shu 。shi yan jie guo biao ming ,gai ce shi ji tong ke yi shi shi quan mian de jian ce shu zi xin hao chu li qi (DSP)de SEE,bing you xiao fang zhi fu zhao shi yan qi jian (DUT)yin SELer shi xiao 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自半导体技术的雷志军,蒋炯炜,郭刚,薛海卫,雷志广，发表于刊物半导体技术2019年01期论文，是一篇关于处理器论文,单粒子效应论文,测试系统论文,抗辐照论文,单粒子翻转率论文,现场可编程门阵列论文,半导体技术2019年01期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自半导体技术2019年01期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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