超细间距引线键合工艺的试验研究

论文题目: 超细间距引线键合工艺的试验研究

论文类型: 硕士论文

论文专业: 机械电子工程

作者: 杨文建

导师: 李小平

关键词: 超细间距,引线键合,芯片封装,正交试验法

文献来源: 华中科技大学

发表年度: 2005

论文摘要: 随着市场和技术的发展,芯片功能不断增强,引线越来越多,而体积却越来越小,导致焊盘(pad)在整个芯片中所占的面积比不断上升,因此,研究超细间距(ultra-Fine -pitch)键合技术是解决芯片小型化必须解决的一个关键技术。引线键合是芯片制造后道工艺中的主要工序,直接影响着集成电路和器件的可靠性和成本。目前我国的引线键合设备和相关技术还依赖进口,成为制约微电子制造业发展的瓶颈。研究开发具有自主知识产权的键合技术有利于我国一些传统制造企业转型,对打破国外的技术垄断,推动我国相关产业的技术进步具有十分重要的意义。本文从微电子制造业的IC 封装相关技术入手,介绍了微电子封装的产生、地位和作用,阐述了微电子封装的主要形式、基本功能和层次,不同封装工艺的优缺点,并对当前封装技术的特点和发展趋势进行了分析。本文对核心引线键合相关技术做了详细的阐述、分析。介绍了芯片焊接设备、引线键合主要工艺过程和发展趋势,为超细间距引线键合的试验分析和研究打下基础。超细间距引线键合将部分参数推向其物理极限值,要求更小直径的金球(free air ball)和键合球(bonded ball),所采用的金线直径更小。试验选取K&S 8028S 型、1484XQ型引线键合机和与45 所联合开发的WB-950 引线键合机为试验平台,观测和测量设备分别选取了XTL-1 型彩色电视体显微镜和Buchler 1500-6400 测量仪。文中对影响引线键合的相关因素进行了深入的分析,并找出最佳可行试验方案,为正式试验研究做好了充分的准备。正式试验选用正交试验法作为本次试验研究的设计依据。利用数理统计学观点,应用正交性原理,从大量的试验中挑选适量的具有代表性、典型性的试验点,根据“正交表”来合理安排试验,同时运用极差分析法、方差分析法和趋势图对试验结果进行分析。通过对线尾、金球、键合球、键合质量的诸多影响因素的广泛工艺试验,最终总结出满足60μm 超细间距引线键合关键参数的影响规律。通过对影响超细间距引线键合关键技术的各种主要因素的广泛试验研究,为下一阶段深入研究微细间距引线键合的影响机理和规律打下了基础。

论文目录:

摘要

Abstract

1 绪论

1.1 课题概述

1.2 主要研究内容的国内外发展情况

1.3 本文主要工作安排

2 IC 封装技术

2.1 电子封装的作用和地位

2.2 微电子封装的基本功能与层次

2.3 芯片微组装的主要形式

2.4 封装技术的发展及其特点

2.5 当前电子封装的发展趋势

2.6 本章小结

3 引线键合相关技术

3.1 芯片主要焊接技术

3.2 引线键合技术的三种主要方法

3.3 引线键合方式的分类

3.4 芯片焊接设备发展情况

3.5 本次试验研究的主要内容和技术关键

3.6 本章小结

4 引线键合试验研究

4.1 试验设备

4.2 试验材料和工具

4.3 试验测量装置

4.4 引线键合质量检验

4.5 试验研究实施情况

4.6 本章小结

5 试验结果、分析及结论

5.1 线尾试验

5.2 金球试验

5.3 键合球试验

5.4 键合质量试验

5.5 本章小结

6 全文的总结及展望

6.1 全文总结

6.2 工作展望

致谢

参考文献

附录攻读学位期间发表论文目录

发布时间: 2006-04-05

参考文献

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