论文摘要
扫描探针显微镜是近二十几年发展起来的一种纳米分辨的成像分析仪器,它利用细小的扫描探针来探测样品表面的细微信息,突破了常规光学显微镜衍射极限的限制,可对样品表面纳米尺度信息进行扫描成像,是纳米科学技术发展中重要的测量工具。本文的主要内容是多功能扫描探针显微镜(即原子力与光子扫描隧道组合显微镜(AF/PSTM)和原子力与反射式扫描近场光学组合显微镜(AF/RSNOM))的研制和应用。 论文内容主要分为五个部分: 第一部分是有关显微镜的历史进展及其原理和应用,从显微镜的应用着手,简要介,绍了从普通显微镜到扫描探针显微镜的发展过程和各种显微镜的特点,并介绍了扫描隧道显微镜、原子力显微镜和扫描近场光学显微镜的工作原理,然后着重介绍了近场光学成像的原理和近场光学的探测方法,并比较了各种探测方法的优缺点。在对比了目前唯一的扫描近场光学显微镜商品——小孔径扫描探针显微镜(A-SNOM)和光子扫描隧道显微镜(PSTM)之后,提出发展PSTM的优势,这是课题的起始缘由。 第二部分介绍了近场光学的理论研究方法,从宏观近场光学理论开始,介绍了麦克斯韦方程和边界条件方法、应用于小起伏样品的微扰近似方法、适合于局域变化大的多极子展开法和适合于模拟几何空间尺寸在几个波长数量级的时域有限差分法。在介观和微观近场光学理论中,则介绍了以散射理论为基础的格林函数方法和极化率方法,它们虽然避免了边界条件的求解问题,但也只有简单系统的格林并矢才比较容易求出其解析解的形式。这些理论方法是近场光学理论研究的基础。 第三部分详细介绍了原子力与光子扫描隧道组合显微镜(AF/PSTM)的研制过程和实验结果。因为一般的PSTM系统的光学图像中存在假像,因此在详细介绍了消假像理论的基础上开展了AF/PSTM的研制工作。从系统的设计要求开始,逐步介绍了AF/PSTM的主机设计、电子系统设计、处理软件设计和AF/PSTM的主要部件如弯光纤探针和扫描压电陶瓷的设计,并介绍了易于调节的非相干、p偏振光对称照明系统的实现方法和扫描图像的采集及图像的物理意义。其中为实现非相干、p偏振光对称照明,设计了提高p波偏振度的全内反射样品台,两个半导体激光器发出的偏振光从对称方向以布儒斯特角在水平方向入射,然后在样品上方同一个位置发生全内反射。采用水平方向入射解决了全内反射对称照明光束的调整难题,同时,采用两个激光器可以实现非相干光照吼使得光学图像不受干涉条纹的影响,保证了光学图像的质量。在仪器研制成功后对仪器
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