基于ARM的频率特性分析仪的设计

论文摘要

扫频仪也称频率特性测试仪(Frequency Response Analyzer),它主要用于测试系统的频率特性,在现代电子测量中占有重要的位置。运用正弦扫频激励信号对被测系统进行快速的动态测量,可以得到被测系统的频率特性,该方法具有试验时间短,便于实现等优点。本文将阐述基于高性能DDS芯片AD9850和专用的增益相位检测芯片AD8302的频率特性分析仪的设计。该仪器以DDS芯片AD9850为核心产生扫频信号,以增益相位检测芯片AD8302为核心构成检测电路,以ARM芯片S3C2440为核心控制器实现对被测系统的频率特性的检测。本仪器具有强大的处理能力,方便的数据输入和输出功能,并通过清晰的图形曲线进行显示,能够在短时间内高精度地测量频率响应特性,并且操作极其简单。因此,该仪器可以更好地满足科研和工程设计的需要,具有一定的科研价值。

论文目录

• 摘要
• Abstract
• 第一章 绪论
• 1.1 频率特性分析仪研究意义
• 1.2 国内外研究现状
• 1.3 本文的主要工作及结构安排
• 第二章 系统总体设计方案
• 2.1 频率特性的测量方法
• 2.2 两种测量方法的比较
• 2.3 数字频率特性分析仪的总体方案设计
• 2.4 本系统的主要技术指标
• 第三章 扫频信号源的设计
• 3.1 频率合成技术
• 3.2 直接数字频率合成（DDS）技术
• 3.3 信号源设计
• 3.3.1 信号源总体设计方案
• 3.3.2 AD9850 芯片简介
• 3.3.3 AD9850 工作原理
• 3.4 信号调理电路设计
• 3.4.1 低通滤波器电路
• 3.4.2 输出程控衰减电路
• 3.4.3 功率控制电路
• 第四章 幅值相位检测电路的设计
• 4.1 幅值相位检测电路设计方案
• 4.2 幅值相位检测电路
• 4.2.1 增益相位检测器AD8302
• 4.2.2 信号调理
• 4.2.3 模数转换电路
• 第五章 控制电路的设计
• 5.1 S3C2440 处理器简介
• 5.2 控制部分系统框图
• 5.3 控制模块的硬件设计
• 5.3.1 S3C2440 存储器的扩展
• 5.3.2 LCD 电路和触摸电路的设计
• 5.3.3 S3C2440 电源模块设计
• 5.3.4 S3C2440 的JTAG 模块设计
• 5.4 控制模块软件设计
• 第六章 系统调试和实验
• 6.1 DDS 扫频信号源测试
• 6.2 幅值检测电路测试
• 第七章 总结与展望
• 7.1 工作总结
• 7.2 展望
• 参考文献
• 致谢
• 附录I 攻读学位其间发表的论文
• 详细摘要