Cpk评价结果的数值模拟分析

论文摘要

随着电子产品质量水平的迅速提高,国际和国内元器件质量和可靠性水平上升到新阶段。在生产过程中,工序是保证质量的基本环节,工序能力分析是质量管理中的一项重要的技术基础工作。搞好工序能力分析,有助于随时掌握生产中各工序的质量保证能力,为产品开发、工艺设计、设备维修改造和提高产品质量提供必要的资料和依据。工序能力一般用工序能力指数(Cpk)来表示,工序能力分析是通过计算工序能力指数实现的,可以根据工序能力指数的大小对工序的加工状况做出判断。本文选取工序能力指数为研究对象,采用数值模拟计算的方法,在产品特征参数的计算、合格产品特性参数分布和成品率之间的关系、工序能力指数置信区间的分布状况以及嵌套分布数据特征参数分布等方面做了详细研究。并且讨论了样本容量变化对产品特性参数分布的影响,得出了在一定置信水平下置信区间随着样本的变化规律,以及嵌套分布数据特征值的分布规律。

论文目录

• 摘要
• Abstract
• 第一章 绪论
• 1.1 工序能力指数概念及意义
• 1.1.1 评价和保证元器件质量和可靠性的传统方法及存在问题
• 1.1.2 评价元器件内在质量和可靠性的新思路
• 1.1.3 工序能力及工序能力指数概念
• 1.2 工序能力指数理论的发展
• 1.3 研究意义及本论文的主要研究工作
• 第二章 工序能力指数基本概念及相关公式
• 2.1 工序能力指数概述及常规计算方法
• 2.1.1 工序能力指数
• 2.1.2 Cp以及Cpk和成品率之间的关系
• 2.2 工序能力指数与6σ设计
• 2.3 正态随机数的产生及检验
• 2.3.1 正态随机数的产生
• 2.3.2 正态分布随机数的检验
• 2.3.3 模拟实验数据的检验及选取
• 2.4 特征值的计算方法
• 2.5 本章小结
• 第三章 参数特征值与成品率
• 3.1 样本特征值估算结果及分析
• 3.2 合格产品特性参数分布与成品率的关系分析
• 3.3 本章小结
• 第四章 工序能力指数的置信区间及对评价的影响
• 4.1 置信区间的概念及计算方法
• 4.2 模拟数据分析
• 4.2.1 总体样本特征值的估算对置信区间的影响
• 4.2.2 总体规范对置信区间的影响
• 4.2.3 置信水平对置信区间的影响
• 4.3 本章小结
• 第五章 嵌套分布
• 5.1 嵌套分布的数学原理及其性质
• 5.1.1 嵌套分布的概念
• 5.1.2 嵌套分布数学模型
• 5.2 模拟产生嵌套分布数据及其分析结果
• 5.3 本章小结
• 第六章 结束语
• 致谢
• 参考文献
• 研究成果