本文主要研究内容
作者冼洁强,黄水华,毛炳雪（2019）在《LED产品老化失效机理分析与探讨》一文中研究指出：本文按照失效分析的流程,对一款失效的LED产品进行分析。外观检查发现失效LED表面发黑,X-Ray探测仪发现LED内部引线断开,SEM电镜检测表明LED芯片外延层烧毁,线径端口烧融的现象,EDS能谱仪成分分析并未发现异常元素,温度测试结果表明LED产品温度超出了LED正常使用的环境温度,热阻分析表明LED芯片结温远高于芯片允许的极限结温,因此LED在老化过程中出现死灯,是由于LED贴片过于密集,热量无法散出,导致芯片结温过高而失效,同时驱动电源输出存在尖峰脉冲,加剧芯片囤积热量,导致失效。因此优化散热和电源的设计是提高LED可靠性的重要方法。
Abstract
ben wen an zhao shi xiao fen xi de liu cheng ,dui yi kuan shi xiao de LEDchan pin jin hang fen xi 。wai guan jian cha fa xian shi xiao LEDbiao mian fa hei ,X-Raytan ce yi fa xian LEDnei bu yin xian duan kai ,SEMdian jing jian ce biao ming LEDxin pian wai yan ceng shao hui ,xian jing duan kou shao rong de xian xiang ,EDSneng pu yi cheng fen fen xi bing wei fa xian yi chang yuan su ,wen du ce shi jie guo biao ming LEDchan pin wen du chao chu le LEDzheng chang shi yong de huan jing wen du ,re zu fen xi biao ming LEDxin pian jie wen yuan gao yu xin pian yun hu de ji xian jie wen ,yin ci LEDzai lao hua guo cheng zhong chu xian si deng ,shi you yu LEDtie pian guo yu mi ji ,re liang mo fa san chu ,dao zhi xin pian jie wen guo gao er shi xiao ,tong shi qu dong dian yuan shu chu cun zai jian feng mai chong ,jia ju xin pian dun ji re liang ,dao zhi shi xiao 。yin ci you hua san re he dian yuan de she ji shi di gao LEDke kao xing de chong yao fang fa 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自中国照明电器的冼洁强,黄水华,毛炳雪，发表于刊物中国照明电器2019年02期论文，是一篇关于驱动电源论文,芯片失效论文,热阻论文,可靠性论文,失效分析论文,中国照明电器2019年02期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自中国照明电器2019年02期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。