大规模存储器的高速并行测试解决方案

论文摘要

集成电路制造技术工艺的发展和市场的庞大需求使得大容量高速存储器产量日益提升,相对应的为迎合市场的需求需要提供一种综合成本最低的测试解决方案。该方案包含了两个关键因素:高速测试,并行测试。在不大规模提升测试成本的前提下,通过同周期信号复用的方式进行倍频,并在多芯片测试时使用共享信号的方式,达到高速且并行的要求。

论文目录

• 摘要
• ABSTRACT
• 1 大规模存储器概要
• 1.1 大规模存储器DDR 的基本概念
• 1.2 DDR 芯片特点
• 1.3 DDR 测试中的问题与解决
• 1.4 在读操作中同一个周期内对输入两个数据进行采样
• 1.5 DDR 测试总结
• 2 生产测试
• 2.1 生产测试分类
• 2.2 标准测试流程图
• 2.3 要点说明
• 2.4 不断发展的存储器
• 2.5 测试系统面临的问题
• 2.6 信号完整性需要解决的问题
• 2.7 超高速存储器测试
• 3 实际SDRAM 测试
• 3.1 SDRAM 概述
• 3.2 SDRAM 特性
• 3.3 基本操作方式
• 3.4 器件管脚
• 3.5 器件外观
• 3.6 结构框图
• 4 测试方法
• 5 总结
• 参考文献
• 发表论文
• 致谢