论文题目: Bi2Te3基温差电材料薄膜和一维纳米线的电化学制备、表征及形成机理研究
论文类型: 博士论文
论文专业: 应用化学
作者: 黄庆华
导师: 王为
关键词: 温差电材料,薄膜,纳米线,电沉积,塞贝克系数
文献来源: 天津大学
发表年度: 2005
论文摘要: 低维温差电材料在温差制冷和温差发电方面展现的广阔应用前景引起了科学界的普遍关注。本论文以电化学技术制备Bi2Te3基温差电材料为目的,通过循环伏安、交流阻抗、阴极极化等电化学测试技术对含有Bi3+、HTeO2+和SbO+的单组分溶液体系、二元溶液体系及三元溶液体系的电化学性能进行了系统研究,提出了具体的反应机理。在理论研究基础上,结合ESEM、FETEM、HREM、SEAD、XPS、XRD、EDS、EDX等现代物理测试技术对电沉积Bi2Te3和Bi2-xSbxTe3温差电薄膜及纳米线阵列的形貌、结构、组成及性能等进行了表征,并对影响温差电性能的因素进行了深入的探讨。由于离子间相互作用的结果,Bi3+、HTeO2+和SbO+在Bi-Te体系、Sb-Te体系和Bi-Sb-Te三元体系中的电化学行为完全不同于各个单组分体系。研究表明HTeO2+在混合溶液的整个电沉积过程中具有非常重要的作用,它能够吸附在铂电极表面而首先被还原,再与其它离子反应生成相应的化合物。采用电化学恒电位沉积技术制备了Bi2Te3及Bi2-xSbxTe3薄膜温差电材料,通过控制沉积电位可以调节薄膜的组成,影响材料的温差电性能,进而能够根据需要设计材料,进行有目的的电化学合成。电沉积Bi2Te3薄膜为n型半导体,-0.030V是最佳沉积电位,其塞贝克系数约为-44μV?K-1。而Bi2-xSbxTe3薄膜为p型半导体,控制沉积电位为-0.5V条件下电沉积薄膜的塞贝克系数达最大,为213μV·K-1,其组成为Bi0.5Sb1.5Te3。在室温范围内,电沉积Bi2-xTe3+x和Bi2-xSbxTe3温差电薄膜的塞贝克系数均随温度的升高呈现上升的趋势,而薄膜电阻却不断降低。此外,多元掺杂能够提高材料的电导率,是改善材料温差电性能的有效方法。以多孔氧化铝薄膜为模板,通过直流电沉积技术成功制备了Bi2Te3和Bi2-xSbxTe3一维纳米线温差电材料。恒电位沉积的Bi2Te3纳米线为多晶体,具有六方晶体结构。恒电流沉积的Bi2-xSbxTe3纳米线的组成随着沉积电流的变化而改变,因此可以通过调节沉积电流的大小控制纳米线的组成,进而改善材料的温差电性能。纳米线阵列的塞贝克系数远远小于块状材料,成分分布不均匀以及纳米线直径较大是影响性能提高的主要原因。
论文目录:
中文摘要
ABSTRACT
第一章 绪论
1.1 引言
1.2 温差电基本原理
1.2.1 塞贝克效应
1.2.2 帕尔帖效应
1.2.3 汤姆逊效应
1.2.4 温差电优值
1.3 温差电材料的发展现状
1.3.1 新材料的研制
1.3.1.1 Skutterudites
1.3.1.2 Clathrates
1.3.1.3 Half-Heusler
1.3.1.4 氧化物
1.3.1.5 五价碲化物
1.3.1.6 β-Zn_4Sb_3
1.3.1.7 其它温差电材料
1.3.2 低维温差电学
1.3.2.1 低维温差电材料的量子效应
1.3.2.2 低维温差电材料的研究现状
1.3.2.3 低维温差电材料的应用前景
1.4 本课题研究的主要内容及意义
第二章 Bi_2Te_3基温差电材料电沉积过程分析
2.1 前言
2.2 实验方法
2.2.1 实验仪器
2.2.2 溶液体系
2.2.3 电化学测试
2.2.3.1 电化学测试装置
2.2.3.2 循环伏安曲线测试
2.2.3.3 阴极极化曲线测试
2.2.3.4 交流阻抗测试
2.2.4 组成及物相分析
2.3 结果与讨论
2.3.1 单组分溶液体系
2.3.2 二元溶液体系
2.3.2.1 Bi-Te 体系
2.3.2.2 Sb-Te 体系
2.3.3 三元溶液体系
2.4 本章小结
第三章 Bi_2Te_3基薄膜温差电材料的制备、表征及性能研究
3.1 前言
3.2 实验方法
3.2.1 实验仪器
3.2.2 电沉积溶液组成
3.2.3 试样及前处理工艺
3.2.4 电沉积工艺
3.2.5 组成及结构分析
3.2.6 温差电性能分析
3.3 结果与讨论
3.3.1 Bi_2Te_3 薄膜
3.3.1.1 Bi_2Te_3薄膜的制备
3.3.1.2 电沉积Bi_2Te_3薄膜的组成及结构表征
3.3.1.3 电沉积Bi_2Te_3薄膜温差电性能研究
3.3.2 Bi_(2-x)Sb_xTe_3 薄膜
3.3.2.1 Bi_(2-x)Sb_xTe_3 薄膜的制备
3.3.2.2 电沉积Bi_(2-x)Sb_xTe_3 薄膜的组成及结构表征
3.3.2.3 电沉积Bi_(2-x)Sb_xTe_3 薄膜温差电性能研究
3.4 本章小结
第四章 Bi_2Te_3基纳米线阵列温差电材料的制备、表征及性能研究
4.1 前言
4.2 实验方法
4.2.1 实验仪器
4.2.2 多孔氧化铝模板的制备
4.2.3 电沉积溶液组成
4.2.4 模板法制备Bi_2Te_3基纳米线阵列
4.2.5 组成及结构分析
4.2.6 温差电性能分析
4.3 结果与讨论
4.3.1 多孔氧化铝模板
4.3.2 Bi_2Te_3 纳米线
4.3.2.1 Bi_2Te_3 纳米线电化学制备工艺的研究
4.3.2.2 电沉积Bi_2Te_3 纳米线的组成及结构表征
4.3.2.3 电沉积Bi_2Te_3 纳米线温差电性能的研究
4.3.3 Bi_(2-x)Sb_xTe_3 纳米线
4.3.3.1 Bi_(2-x)Sb_xTe_3 纳米线电化学制备工艺的研究
4.3.3.2 电沉积Bi_(2-x)Sb_xTe_3 纳米线的组成及结构表征
4.3.3.3 电沉积Bi_(2-x)Sb_xTe_3 纳米线温差电性能的研究
4.4 本章结论
第五章 结论
参考文献
攻读博士学位期间发表论文和科研情况
致谢
发布时间: 2007-07-10
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