本文主要研究内容
作者王洪岩,吴英伟,路志爽（2019）在《电容近炸引信高频部件储存性能试验研究》一文中研究指出：对实际非密封储存2、4、6～12年的引信高频部件进行储存性能检测试验,结果表明,高频部件失效存在振荡电压峰峰值降低失效和检波电压降低失效两种;从储存第6年开始出现失效,储存6～12年分别失效4、5、7、10、7、6、10发;振荡电压峰峰值和检波电压均值均有下降趋势,但振荡频率和饱和检波电压未失效。
Abstract
dui shi ji fei mi feng chu cun 2、4、6～12nian de yin xin gao pin bu jian jin hang chu cun xing neng jian ce shi yan ,jie guo biao ming ,gao pin bu jian shi xiao cun zai zhen dang dian ya feng feng zhi jiang di shi xiao he jian bo dian ya jiang di shi xiao liang chong ;cong chu cun di 6nian kai shi chu xian shi xiao ,chu cun 6～12nian fen bie shi xiao 4、5、7、10、7、6、10fa ;zhen dang dian ya feng feng zhi he jian bo dian ya jun zhi jun you xia jiang qu shi ,dan zhen dang pin lv he bao he jian bo dian ya wei shi xiao 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自兵器装备工程学报的王洪岩,吴英伟,路志爽，发表于刊物兵器装备工程学报2019年04期论文，是一篇关于电容近炸引信论文,高频部件论文,储存性能试验论文,振荡电压论文,检波电压论文,储存失效论文,兵器装备工程学报2019年04期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自兵器装备工程学报2019年04期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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