数控装置的可靠性评估

论文摘要

随着数控应用面的扩大,市场不仅对数控装置的需求量增加了,而且对该设备的性能、质量提出了更高的要求,可靠性已经成为了产品竞争的焦点和国内外市场竞争的关键所在。国产数控装置的产品质量和可靠性低于国外同类产品,故障率较高,使国产数控产品失去了不少用户。因此,提高产品质量和可靠性对扭转国产数控装置的市场占有率,树立国产数控装置的良好形象有着十分重要的意义。本论文主要包括以下几个方面：1、数控装置的可靠性预计与分配。通过分析数控装置的体系结构,并按照不同功能进行了模块的划分,构建数控装置的逻辑结构模型,并对数控装置进行详细的可靠性分配与预计。2、数控装置的故障模式影响分析。分析某型号数控装置故障数据,总结出了13种常见故障模式,5个故障部位,对数控装置的维修工作和故障检测工作以及后续的可靠性改进工作提供依据。3、数控装置的寿命分布模型。通过反馈的故障数据记录,通过绘制频率直方图,进行分布类型的初选,然后假设分布类型,进行假设检验以及参数估计,进而确定分布类型,最后根据分布类型进行可靠性指标的定量分析。4、数控装置的可靠性评估。利用Bayes理论,通过小子样试验数据对数控装置进行可靠性评估,分析未定型产品的可靠性指标。

论文目录

• 摘要
• Abstract
• 第1章 绪论
• 1.1 课题来源
• 1.2 课题研究的目的与意义
• 1.2.1 课题研究的目的
• 1.2.2 课题研究的意义
• 1.3 国内外数控装置可靠性技术的研究现状
• 1.3.1 国外研究现状
• 1.3.2 国内研究现状
• 1.3.3 数控装置可靠性评估面临的问题
• 1.4 数控装置可靠性的发展前景
• 1.5 论文的主要内容及内容
• 第2章 数控装置的可靠性预计和分配
• 2.1 概述
• 2.2 数控装置可靠性模型的建立
• 2.2.1 数控装置可靠性逻辑框图的构建
• 2.2.2 串联系统可靠度的计算
• 2.3 可靠性的分配
• 2.3.1 加权因子分配法
• 2.3.2 数控装置可靠性指标的分配
• 2.4 可靠性预计
• 2.4.1 基于数理统计的预计法
• 2.4.2 元器件计数法
• 2.4.3 元器件的失效模型和失效率来源
• 2.4.4 预计数控装置的可靠性
• 2.5 本章小结
• 第3章 数控装置的故障模式影响分析
• 3.1 概述
• 3.2 数控装置故障模式的分析
• 3.3 数控装置故障模式分类和原因的分析
• 3.4 数控装置故障模式危害度的分析
• 3.5 本章小结
• 第4章 数控装置的寿命分布模型
• 4.1 概述
• 4.2 数控装置的可靠性寿命数据抽取
• 4.3 首次故障时间分布类型的初
• 4.3.1 绘制频率直方图
• 4.3.2 分布类型的初选
• 4.3.3 经验分布函数的确定
• 4.3.4 分布类型的图检验和极大似然估计
• 4.3.5 分布函数的假设检验
• 4.3.6 数控装置的可靠性指标定量分析
• 4.4 本章小结
• 第5章 数控装置的可靠性评估
• 5.1 概述
• 5.2 Bayes评估方法的基本思想
• 5.3 Bayes评估方法关键技术及应用
• 5.3.1 验前信息的获取与检验
• 5.3.2 Bayes验前分布的确定方法
• 5.3.3 Bayes验后分布的计算
• 5.4 数控装置的Bayes分析
• 5.4.1 验前信息的分析与检验
• 5.4.2 先验信息分析及参数确定
• 5.4.3 验后信息分析
• 5.5 本章小结
• 第6章 结论
• 6.1 概述
• 6.2 展望
• 参考文献
• 致谢