论文摘要
硅麦克风是近年来发展起来的一种新型技术,它综合运用了多学科技术:MEMS硅芯片和标准的IC集成电路技术。硅麦克风能够以标准的半导体工艺来进行封装、测试,又以其微型化、可以高效率的实现后道表面贴封的优势,因而广泛应用于便携式电子:手机、数码相机、笔记本电脑等,硅麦克风的众多相关问题的研究逐步地成为热点。本文通过对硅麦克风IC驱动芯片封装工艺的初步研究,把深入研究和改善的重点放在IC驱动芯片的包封工艺和引线键合工艺上。IC驱动芯片包封工艺的研究和改善重点放在点胶方式上:传统的针头式点胶方式和无接触喷射式点胶方式。通过实验验证的方法确认无接触喷射式点胶方式在IC驱动芯片包封工艺上的优势,并且成功的在硅麦克风IC驱动芯片上运用无接触喷射式点胶方式。在提高了良率的基础上进一步的进行了失效模式、失效原因的分析,分别对关键的工艺参数:胶点的大小、点胶高度、点胶压力、点胶时间、点胶喷嘴头的尺寸进行了相关性的实验研究,并借助实验设计的方法用有限的实验数组得出最佳的参数范围。同时对胶水的性能做了分析、研究,选出适合的胶水品牌,再次提高了IC驱动芯片包封工艺的良率。另外对于IC驱动芯片引线键合工艺的第二焊点焊盘剥离的失效模式、焊盘结构、失效原因作出了分析研究,借助SEM扫描电镜、EDX能谱分析、切片分析方法得出失效的最终原因,并提出有效的改善措施,解决了IC驱动芯片引线键合工艺的不良问题。
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摘要Abstract第一章 绪论1.1 硅麦克风的简介1.1.1 麦克风的分类和发展1.1.2 硅麦克风结构和工作原理1.1.3 硅麦克风的特点1.1.4 硅麦克风的应用前景1.2 硅麦克风封装面临的挑战1.2.1 硅麦克风封装的简易流程1.2.2 硅麦克风封装技术的挑战1.3 本文主要的研究内容第二章 IC 驱动芯片封装工艺研究的实验方法2.1 IC 驱动芯片封装中的包封工艺2.2 IC 驱动芯片封装工艺研究的实验方法2.2.1 实验方案的设计2.2.2 实验的设备及内容2.3 本章小结第三章 IC 驱动芯片包封工艺点胶方式的研究和改善3.1 引言3.2 包封工艺的点胶方式3.2.1 针头点胶技术3.2.2 无接触喷射式点胶技术3.2.3 无接触喷射式点胶技术的优点3.2.4 无接触喷射式点胶方式的实验3.3 无接触喷射点胶方式在硅麦克风IC 驱动芯片上的运用3.4 本章小节第四章 IC 驱动芯片无接触喷射式点胶方式工艺的优化4.1 引言4.2 无接触喷射式点胶方式下不良品及失效模式分析4.2.1 无接触喷射式点胶方式下的不良品的分析4.2.2 无接触喷射式点胶方式下的失效模式分析4.2.3 无接触喷射式点胶方式下的失效原因分析4.3 无接触喷射式点胶方式工艺的优化4.3.1 金线歪斜下垂不良品的点胶工艺参数的优化4.3.2 胶量过多过少不良品的点胶工艺参数的优化4.3.3 胶水包封脱离分层现象工艺参数的优化4.3.4 工艺优化后的无接触喷射式点胶方式的良率的提高4.4 本章小结第五章 IC 驱动芯片引线键合工艺分析与改善5.1 引言5.2 焊盘剥离的失效模式分析5.3 焊盘剥离的原因分析5.4 焊盘剥离的改善措施5.5 本章小结第六章 总结和展望参考文献致谢攻读学位期间发表的学术论文
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