(类)金刚石薄膜的微细加工、表征及其在ICF靶制备中的应用

(类)金刚石薄膜的微细加工、表征及其在ICF靶制备中的应用

论文摘要

金刚石薄膜具有高熔点、高热导率、高硬度、绝缘性好、抗腐蚀性强、介电常数小、宽带隙、抗辐射、化学稳定性好等一系列无与伦比的优异性能,是一种应用潜力巨大的新型功能材料。除了在军事、航天、电子信息、医学、工业和核物理等领域有着广阔的应用前景外,在激光惯性约束聚变靶的制备中也有广泛的应用。正是由于这些优异的力学、光学、电学、热学等性能和诱人的应用前景,成为当今材料、物理、化学等学科的研究热点课题之一。本论文以中国工程物理研究院重大基金项目“超硬纳米非晶碳膜的制备、结构、性能及应用研究(批准号:2005Z0805)”为依托,完成了金刚石薄膜的制备、微细加工、表征及其在激光惯性约束聚变(ICF)靶制备中的应用等研究工作。1、金刚石薄膜的热丝化学气相沉积法(HF-CVD)制备及其拉曼光谱(Raman)表征。金刚石薄膜的制备方法很多,从目前的研究情况来看,要制备出质量较好的金刚石薄膜,主要以化学气相沉积法为主,如微波等离子体化学气相沉积法(MP-CVD)和热丝化学气相沉积法(HF-CVD)。本文采用热丝化学气相沉积技术在硅片(P型(100)硅片)上沉积金刚石薄膜。通过拉曼光谱分析测试,在1333cm-1处出现CVD金刚石薄膜的一阶拉曼散射峰,表明所制备的薄膜为金刚石薄膜。同时在1480cm-1和1560cm-1附近也有大的“波包状”拉曼散射峰出现,表明薄膜中除金刚石相外,还有非金刚石相的产物生成,如非晶碳、石墨等,且拉曼散射谱的噪声背景较高(背景噪声为荧光干扰,如果用紫外光作为拉曼谱的激发光源,噪声背景可能会降低,本文测试中所用的激光波长为514nm、532nm)。在CVD金刚石薄膜的表面沉积了不同厚度的Au、Ag薄膜后,对其进行表面增强拉曼散射谱(SERS)测试,但结果并没有得到很大的增强效果(如相关报道中的几个数量级),增强因子只有2~3。2、金刚石薄膜的反应离子刻蚀法(RIE)微细加工技术研究。金刚石薄膜具有优异的电学性能,但要将其应用在电子器件中,就必须解决金刚石薄膜的图形化问题。由于金刚石薄膜的化学惰性极强,不与一般的腐蚀剂发生反应,难以用常规的半导体工艺实现高精度图形化,所以要使得金刚石膜在微电子领域得到广泛应用,就必须采用特殊的加工工艺及方法。目前广泛采用的是金刚石薄膜的选择性生长、反应离子刻蚀和激光束刻蚀等图形化技术。考虑到与其他微细加工工艺的兼容性,采用在微电子领域广泛应用的反应离子刻蚀技术对金刚石薄膜进行图形化技术研究。在自建的电子回旋共振微波等离子体反应离子刻蚀装置上,以频率2.45GHz的微波为等离子体激发电源,以金属铝薄膜(厚度150nm)为掩膜,经紫外光刻(UV Lithography)完成设计图形的转移后,再以氧气、氩气的混合气体为气源进行CVD金刚石薄膜的反应离子刻蚀微细加工技术研究。通过实验研究发现,在反应气体的流量比为O2/Ar=4/1、反应气体的压力为0.25Pa、微波源阳极电流为100mA、衬底偏压—80V的条件对金刚石薄膜进行氧反应离子刻蚀法加工的速率约为4.2μm/h。需要特别指出的是,上述结果是在非标实验装置上得到的结果,会因具体实验条件的变化而发生变化。造成这种结果的原因是与实验过程中激励电源的阻抗匹配状态、反应腔的几何尺寸、气体流速等实验参数有密切的关系。3、干法刻蚀(Dry Etching)和湿法腐蚀(Wet Etching)相结合制备金刚石“自支撑”和“自悬浮”微结构的研究。金刚石薄膜因集优良的物理、化学特性于一身,使其成为一种引人注目的电子材料和结构材料,被认为是一种“理想”的微机械电子系统(MEMS)结构材料。当金刚石薄膜应用于微电子、微机械器件时,除其图形化工艺技术外,制备可独立运动的微机械元件也是一项十分关键的技术。有研究者用选择生长的方法在牺牲层上(如SiO2等)制备所需的独立部件,通过刻蚀牺牲层而获得独立的可运动部件。在本论文中,采用干法刻蚀技术和湿法化学腐蚀相结合的办法制备“自支撑”金刚石微结构部件和“自悬浮”金刚石微结构部件。先采用氧反应离子刻蚀法在硅基底上制备出所设计的金刚石薄膜微结构;再用稀释的氢氟酸(HF)溶液去除掉硅基底表面的二氧化硅(SiO2)薄层;最后在制备金刚石薄膜“自支撑”结构时,采用硅的各向同性湿法腐蚀技术,将处于硅片上的微结构置于腐蚀液中(一般为氢氟酸和硝酸的混合溶液),微结构下面的硅被腐蚀掉,微结构从基底上剥离下来,清洗后就得到了“自支撑”的金刚石薄膜微结构;在制备金刚石薄膜“自悬浮”结构(类似于常见的硅的微悬臂梁结构)时,采用硅的各向异性湿法腐蚀技术,将制备在硅片上的微结构置于腐蚀液中(一般为氢氧化钾溶液),由于硅片的各个晶面在氢氧化钾溶液中的腐蚀速率差别很大(容易形成底切),微结构下面的硅只被部分腐蚀掉,还有部分未被腐蚀掉,微结构就被这些未被腐蚀掉的硅材料支撑起来,清洗后可得“自悬浮”的金刚石薄膜微结构。利用这种技术制备出了“自支撑”的微齿轮和“自悬浮”的微梳齿等金刚石薄膜微细结构。扫描电子显微镜和白光干涉仪测试结果表明,利用这种技术制备的金刚石微结构边沿清晰,侧壁陡直,无底切现象。硅基底的腐蚀深度可控,腐蚀的速率与腐蚀液的浓度和温度有关,对于45%的氢氧化钾溶液,在室温下,对硅(100)面的腐蚀速率约为1.5μm/h。4、(类)金刚石薄膜和反应离子刻蚀技术(RIE)在激光惯性约束聚变(ICF)微靶制备中的应用。金刚石薄膜、类金刚石薄膜、非晶碳氢薄膜和反应离子刻蚀技术在激光惯性约束聚变靶制备中有着广泛的应用。在本论文中,以激光惯性约束聚变物理实验研究中所用的埋点靶、多层靶和类金刚石空心微球的制备及应用为例,论述了类金刚石薄膜、非晶碳氢薄膜和反应离子刻蚀技术在激光惯性约束聚变靶制备中的应用。如CH/Al/CH结构的铝埋点靶,采用低压等离子体化学气相沉积法(LPP-CVD)制备非晶碳氢薄膜,采用氧反应离子刻蚀技术来进行非晶碳氢薄膜的微加工成型。与过去的制备工艺相比,有以下几个优点:一次可以加工多个,可以小批量制备;采用化学掩膜技术,抛弃物理掩膜方法,埋点材料的尺寸更接近物理实验设计要求,避免物理掩膜法制备过程中埋点材料中间厚、边缘薄的“馒头形”缺点,避免了埋点材料在掩膜下的少量扩散沉积;同心度好,避免了采用物理掩膜模具进行对准时尺寸偏差较大的问题;采用反应离子刻蚀技术和化学腐蚀的方法进行有机薄膜和埋点材料的加工成型,避免了以前采用掩膜模具成型时易发生粘连现象而影响成品率的问题。在激光惯性约束聚变物理实验研究中,还有一种由几种不同的材料组成的多层结构,如CH/Au/Ni多层靶。在制备过程中主要结合镍的电铸、金的湿法腐蚀和非晶碳氢薄膜的沉积和氧反应离子刻蚀技术。经过三次紫外光刻,一次电铸镍,一次金膜溅射,一次金膜湿法腐蚀和碳氢薄膜的沉积和反应离子刻蚀微加工,初步制备出了多层微细结构CH/Au/Ni。近年来有关“点火靶”的设计与制备技术成为激光惯性约束聚变研究领域中的研究热点,其中基于(类)金刚石薄膜的空心微球就是其中之一。本文利用铜微球为芯轴,通过直流磁控溅射技术先在芯轴上沉积类金刚石薄膜,再经过打孔、腐蚀芯轴来制备类金刚石空心微球。初步探索了类金刚石空心微球的制备工艺,为以后进一步研究奠定了基础。

论文目录

  • 摘要
  • Abstract
  • 第一章 绪论
  • 1.1 碳薄膜的定义、分类
  • 1.2(类)金刚石薄膜的结构和性能
  • 1.2.1 力学性能
  • 1.2.2 电学性能
  • 1.2.3 光学性能
  • 1.2.4 热学性能
  • 1.2.5 金刚石膜的声学性质
  • 1.2.6 金刚石膜的化学性质
  • 1.3(类)金刚石薄膜的应用
  • 1.3.1 惯性约束聚变(ICF)实验研究的靶材料
  • 1.3.2 机械方面的应用
  • 1.3.3 光学材料和电子器件的保护层
  • 1.3.4 微电子领域
  • 1.3.5 医学方面
  • 1.3.6 航天航空领域
  • 1.3.7 其他方面应用
  • 1.4(类)金刚石薄膜的制备方法
  • 1.4.1 微波等离子体化学气相沉积法(MP-CVD)
  • 1.4.2 热丝等离子体化学气相沉积法(HF-CVD)
  • 1.4.3 电子加速法
  • 1.4.4 喷射CVD法
  • 1.4.5 火焰法
  • 1.4.6 真空阴极电弧沉积法(VCAD)
  • 1.4.7 磁控溅射法(Magnetron Sputtering,MS)
  • 1.4.8 脉冲激光气相沉积法(PLD)
  • 1.5 金刚石薄膜的国内外研究现状及存在的问题
  • 1.6 论文的选题和主要研究内容
  • 第二章 热丝化学气相沉积法金刚石薄膜的制备与表征
  • 2.1 化学气相沉积法制备金刚石薄膜的基本原理
  • 2.2 金刚石薄膜的成膜机理
  • 2.2.1 动力学控制模型
  • 2.2.2 原子氢择优刻蚀模型
  • 2.2.3 表面反应模型
  • 2.2.4 准平衡模型
  • 2.2.5 金刚石低压气相生长的非平衡热力学耦合理论
  • 2.3 化学气相沉积金刚石过程中H原子的作用
  • 2.4 热丝化学气相沉积法(HF-CVD)制备金刚石薄膜
  • 2.4.1 基本原理
  • 2.4.2 基本装置
  • 2.4.3 实验条件
  • 2.5 金刚石薄膜的表征
  • 2.5.1 HF-CVD金刚石薄膜的扫描电子显微镜(SEM)测试分析
  • 2.5.2 HF-CVD金刚石薄膜的原子力显微镜(AFM)测试分析
  • 2.5.3 HF-CVD金刚石薄膜的拉曼光谱表征
  • 2.5.3.1 拉曼光谱(Raman)简介
  • 2.5.3.2 拉曼光谱(Raman)在CVD金刚石膜表征分析中的应用
  • 2.5.3.3 拉曼光谱和CVD金刚石薄膜内应力
  • 2.5.3.4 HF-CVD金刚石薄膜的拉曼光谱表征
  • 2.5.3.5 HF-CVD金刚石薄膜的表面增强拉曼光谱表征
  • 2.6 本章小结
  • 第三章 金刚石薄膜的氧反应离子刻蚀加工技术
  • 3.1 金刚石薄膜的图形化技术
  • 3.1.1 选择性生长技术
  • 3.1.2 激光/聚焦离子束刻蚀技术
  • 3.1.3 反应离子刻蚀技术
  • 3.2 电子回旋共振微波等离子体反应离子刻蚀技术的基本原理
  • 3.2.1 微波等离子体技术的基本原理
  • 3.2.2 电子回旋共振微波等离子体技术的基本原理
  • 3.2.3 电子回旋共振微波等离子体放电的理论推导
  • 3.2.4 电子回旋共振(ECR)加热的基本原理
  • 3.2.5 模式转换器的作用
  • 3.2.6 等离子体在真空腔中的运动及密度分布
  • 3.3 电子回旋共振微波等离子体放电的应用
  • 3.4 电子回旋共振微波等离子体放电系统的组成
  • 3.4.1 微波系统
  • 3.4.2 电子回旋共振磁场
  • 3.4.3 等离子体室
  • 3.4.4 气路系统
  • 3.4.5 真空系统
  • 3.5 电子回旋共振微波等离子体(ECR-MP)的特点
  • 3.6 实验中所用ECR-MP系统简介
  • 3.7 反应离子刻蚀(RIE)技术的基本原理
  • 3.8 反应离子刻蚀的简单唯像模型
  • 3.8.1 简单的化学反应框架
  • 3.8.2 氧反应离子刻蚀的简单唯像模型
  • 3.9 ECR-MP反应离子刻蚀(RIE)法加工金刚石薄膜
  • 3.9.1 反应离子刻蚀加工金刚石薄膜的工艺过程
  • 3.9.2 主要工艺参数对刻蚀过程的影响和作用规律
  • 3.9.2.1 反应气体成份及比例对刻蚀速率的影响
  • 3.9.2.2 气压对刻蚀速率的影响
  • 3.9.2.3 不同工艺参数对金刚石薄膜刻蚀界面形貌的影响
  • 3.9.2.4 等离子体分布对刻蚀均匀性的影响
  • 3.9.2.5 侧壁陡直度分析
  • 3.10 本章小结
  • 第四章 自支撑金刚石薄膜微结构的制备
  • 4.1 常用微细加工技术简介
  • 4.1.1 光刻工艺
  • 4.1.2 表面工艺
  • 4.1.3 体硅工艺
  • 4.1.3.1 硅的各向异性化学湿法腐蚀
  • 4.1.3.2 硅的各向同性化学湿法腐蚀
  • 4.2 工艺设计
  • 4.3 工艺条件
  • 4.4 自支撑金刚石微齿轮的分析表征
  • 4.4.1 扫描电子显微镜检测(SEM)
  • 4.4.2 金刚石微齿轮白光干涉仪检测
  • 4.4.3 自支撑金刚石微齿轮
  • 4.4.4 自支撑金刚石微齿轮的手工组装
  • 4.5 金刚石微梳齿的检测分析
  • 4.5.1 扫描电子显微镜检测(SEM)
  • 4.5.2 金刚石微梳齿的白光干涉仪检测
  • 4.5.3 金刚石"悬臂梁"式微梳齿的制各与检测
  • 4.5.4 金刚石"悬臂梁"式微梳齿的白光干涉仪检测
  • 4.6 本章小结
  • 第五章 非晶碳薄膜和反应离子刻蚀技术在ICF靶制备中的应用
  • 5.1 铝埋点靶的制备
  • 5.1.1 铝埋点靶的结构
  • 5.1.2 铝埋点靶的制备工艺流程
  • 5.1.2.1 CH薄膜的制备
  • 5.1.2.2 Al薄膜的制备
  • 5.1.2.3 氧等离子体反应离子刻蚀(Oxygen-RIE)法加工CH薄膜
  • 5.1.3 铝埋点靶的检测和分析
  • 5.2 CH/Au/Ni多层平面靶零件制备技术研究
  • 5.2.1 准UV-LIGA技术简介
  • 5.2.2 CH/Au/Ni多层平面靶的制备工艺流程
  • 5.2.2.1 基片的预处理
  • 5.2.2.2 微电铸镍(Ni)支撑结构
  • 5.2.2.3 金膜的沉积与图形化
  • 5.2.2.4 碳氢薄膜的制备与反应离子刻蚀加工
  • 5.2.2.5 多层平面靶的剥离
  • 5.2.3 本节小结
  • 5.3 类金刚石空心微球的制备
  • 5.3.1 类金刚石微球的制备工艺流程
  • 5.3.2 类金刚石薄膜的拉曼光谱定性分析
  • 5.3.3 类金刚石微球的检测与分析
  • 5.4 本章小结
  • 第六章 全文总结与展望
  • 6.1 全文总结
  • 6.2 论文的主要创新点
  • 6.3 对今后工作的展望
  • 致谢
  • 参考文献
  • 附录
  • 相关论文文献

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