ZnO基薄膜晶体管的初步研究

ZnO基薄膜晶体管的初步研究

论文摘要

本论文的主要实验内容是在ITO玻璃衬底上利用等离子增强金属有机化学气相淀积-Ⅱ系统制备氧化镁薄膜材料及氧化锌半导体薄膜材料。实验中通过改变生长时的氧气流量和温度条件,分析了生长条件的改变对氧化镁薄膜材料在表面形貌及光学透过率及电阻率等方面的影响。在制备出较高质量的氧化镁半导体薄膜材料的基础上,在其上同样利用MOCVD方法生长了氧化锌半导体材料,制备了ITO/MgO/ZnO/Al底栅型薄膜晶体管器件,并对器件的输出特性曲线及转移特性曲线等进行了电学方面的测试经过大量实验,我们获得了性能稳定的TFT器件,我们所制备的ZnO-TFT器件透射率在90%以上,满足液晶显示器的要求,开/关电流比为103量级,阈值电压为2.5V,迁移率达可到11.57cm2/Vs。

论文目录

  • 提要
  • 第一章 绪论
  • 1.1 ZnO 及MgO 材料的基本性质
  • 1.2 ZnO 材料研究进展
  • 1.3 ZnO 基薄膜晶体管的研究进展
  • 1.4 本论文的主要内容
  • 第二章MgO/ZnO 反应源、设备和表征方法
  • 2.1 制备MgO/ZnO 薄膜的源材料
  • 2.2 制备MgO/ZnO 材料的MOCVD-Ⅱ系统
  • 2.3 MgO/ZnO 薄膜的MOCVD 制备步骤
  • 2.4 常用的样品表征方法
  • 第三章 生长条件对MgO 薄膜质量的影响
  • 3.1 MOCVD 法制备MgO 薄膜
  • 3.2 衬底温度以及退火对MgO 薄膜的表面形貌的影响
  • 3.2.1 制备样品的SEM 图片
  • 3.2.2 对表面形貌成因的分析
  • 3.3 衬底温度对MgO 薄膜的可见光透射率的影响
  • 3.3.1 制备的MgO 样品的可见光透射率
  • 3.3.2 对样品透射率的分析
  • 3.4 衬底温度对MgO 薄膜的绝缘性的影响
  • 第四章ZnO 基TFT 相关器件制备与研究
  • 4.1 ZnO 基TFT 的结构和工作原理
  • 4.1.1 ZnO 基TFT 的基本结构
  • 4.2 改变生长条件对ZnO 基TFT 器件特性的影响
  • 4.2.1 镁源气体流量对ZnO 基TFT 器件特性的影响
  • 4.2.2 氧气流量对ZnO 基TFT 器件特性的影响
  • 结论
  • 参考文献
  • 致谢
  • 摘要
  • Abstract
  • 相关论文文献

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