基于CDV的随机测试技术

论文摘要

随着大规模集成电路的发展,其设计规模不断增加,从几十万门级发展到百万、千万门级,完成相应的验证工作也变得越来越困难,给相应的验证工作带来了巨大的挑战。如何在有限的芯片开发周期内完成芯片的设计,并完成相应的代码验证工作是我们面临的重要问题。目前业界广泛采用主要验证方法有断言验证、形式验证、功能验证等,各种验证方法都在实际的工程实践中得到广泛的应用。本文主要是应用Specman E语言对工程项目中的基于功能覆盖的验证。该芯片是海思光网络研发管理部2006年开发的一款传输芯片,广泛应用于华为的传输设备,业务时钟频率范围从622MHz到2.5GHz,采用IBM的90nm的CMOS工艺、规模为两千万门级左右,主要处理光网络的14种业务向OTU1业务的映射、解映射,同时进行业务开销的提取监视和插入等工作。本人主要负责其中的两种业务的验证工作。本文以其中的一种业务STM-1的上行方向的验证为例,阐述基于功能覆盖的随机测试过程以及相应验证环境的搭建。随机测试过程包括featurelist的提取,测试方案的制定、功能点的checking过程、随机测试、补充测试。最终达到完全功能验证――功能覆盖率为100%。目前该芯片功能验证工作已经全部完成,仿真结果表明设计的芯片性能良好,满足功能指标要求。

论文目录

• 摘要
• ABSTRACT
• 第一章 绪论
• 1.1 论文研究背景
• 1.2 论文主要工作和章节安排
• 第二章 协议与项目介绍
• 2.1 SDH 相关协议介绍
• 2.2 OTN 相关协议介绍
• 2.3 项目介绍
• 第三章 验证环境的搭建和SPECman E 语言介绍
• 3.1 基本验证环境搭建介绍
• 3.2 Generator 的设计
• 3.3 Driver BFM 的设计
• 3.4 Monitor BFM 的设计
• 3.5 ScoreBoard 的设计
• 3.6 RM（Reference Module）设计
• 3.7 TestCase 的设计
• 第四章 基于功能覆盖的随机测试
• 4.1 功能feature 的提取
• 4.2 功能覆盖率分析计划
• 4.3 Checking
• 4.4 随机测试
• 结束语
• 致谢
• 参考文献
• 在学期间研究成果