多孔硅制备方法及其含能材料爆炸性能研究

多孔硅制备方法及其含能材料爆炸性能研究

论文摘要

本文研究了多孔硅基片状及粉末状的制备方法及爆炸性能。采用高氯酸钠为氧化剂,制备了多孔硅/高氯酸钠复合含能材料。分析了其理化性质及各因素对多孔硅基含能材料的燃烧性能的影响,内容包括以下9个方面:(1)采用电阻率为0.020.03 cm-1的P型单晶硅片,以电化学阳极氧化法采用恒电流模式制备多孔硅基片,观察了电流密度、阳极氧化时间对孔隙率的影响。采用重量法计算出多孔硅层的孔隙率,发现制备的多孔硅层孔隙率可达到85%。(2)利用SEM、FT-IR等测试技术对多孔硅基片进行了结构及性能表征,发现多孔硅层表面孔隙分布均匀,表面存在大量的Si-Hx活性键。(3)采用正交实验的方法,筛选出HF:HNO3:H2O=3:1:15为制备多孔硅粉末的最佳腐蚀体系,经过单因素实验的完善,确定多孔硅(粉末)/高氯酸钠复合含能材料的最佳制备方案为腐蚀液配比为HF:HNO3:H2O=3:1:15,反应时间120min,搅拌速率180r/min,高氯酸钠:多孔硅粉末(质量比)=1:1。(4)以高氯酸钠为氧化剂,制备出多孔硅(基片)/高氯酸钠复合含能材料,对其进行电压感度测试,以Ni-Cr桥丝对样品起爆,电容大小为33μF时,多孔硅(基片)/高氯酸钠的发火电压为25V。(5)按照GJB772A-97标准对多孔硅(基片)/高氯酸钠进行摩擦感度测试,爆炸概率为84%。(6)比表面积测定显示,结合SEM测试结果发现,当反应时间为80min时,多孔硅粉的比表面积最大,但是起到抑制作用的孔径小于3nm的孔隙数量也多于120min所产出的多孔硅粉末样品,因此活性降低。(7)FT-IR测试发现新鲜制备多孔硅粉末表面存在大量的Si-Hx以及Si-O-Si。(8)利用堆积密度公式计算出多孔硅粉末的孔隙率,反应时间为40min、80min以及120min的样品孔隙率分别为52%、57.8%以及64.4%。(9)按照GJB772A-97对多孔硅(粉末)/高氯酸钠含能材料测试出三种样品撞击感度及摩擦感度的爆炸概率。

论文目录

  • 摘要
  • Abstract
  • 1 引言
  • 1.1 概述
  • 1.2 含能材料的发展及研究现状
  • 1.3 多孔材料的特征及分类
  • 1.3.1 多孔材料的特征
  • 1.3.2 多孔材料的分类
  • 1.4 典型多孔材料的制备方法及形成机理
  • 1.4.1 金属多孔材料的制备方法
  • 1.4.2 多孔陶瓷的制备方法
  • 1.4.3 硅气凝胶的制备及形成机理
  • 1.5 多孔硅的研究现状及应用
  • 1.5.1 多孔硅材料的研究现状
  • 1.5.2 多孔硅/氧化剂复合含能材料的应用
  • 1.6 论文研究内容
  • 2 单晶硅电化学方法制备多孔硅基片的研究
  • 2.1 单晶硅制备多孔硅基片的方法
  • 2.2 电化学方法制备多孔硅的形成模型
  • 2.3 多孔硅基片的电化学制备
  • 2.3.1 实验仪器及原料
  • 2.3.2 双槽电化学阳极氧化的制备流程
  • 2.3.3 阳极电化学反应的反应现象
  • 2.3.4 电化学反应条件对孔隙率的影响
  • 2.3.5 多孔硅基片 SEM 扫描电镜图
  • 2.3.6 多孔硅层的 FT‐IR 光谱图
  • 3 化学腐蚀法制备粉状多孔硅的工艺研究
  • 3.1 粉末状多孔硅的制备方法
  • 3.2 化学腐蚀法原理
  • 3.3 化学腐蚀法制备多孔硅粉末
  • 3.3.1 实验仪器及原料
  • 3.3.2 化学腐蚀法制备多孔硅粉末工艺流程
  • 3.3.3 化学腐蚀法制备多孔硅粉末工艺优化
  • 3.3.4 单因素实验制备条件
  • 3.3.5 化学腐蚀条件对多孔硅粉比表面积的影响
  • 3.3.6 反应时间对多孔硅粉末形貌及比表面积的影响
  • 3.3.7 多孔硅粉活性的影响因素
  • 3.3.8 腐蚀时间对多孔硅孔隙率的影响
  • 3.3.9 多孔硅/高氯酸钠含能材料热性能分析
  • 4 多孔硅/高氯酸钠复合含能材料性能测试
  • 4.1 多孔硅/高氯酸钠含能材料的制备
  • 4.2 基片式多孔硅/高氯酸钠的电压感度实验
  • 4.3 多孔硅/高氯酸钠复合含能材料的机械感度测试
  • 5 结论与展望
  • 5.1 结论
  • 5.2 展望
  • 参考文献
  • 攻读硕士期间发表论文及所取得的研究成果
  • 致谢
  • 相关论文文献

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