电真空器件非工作状态长期贮存寿命评价研究

论文题目: 电真空器件非工作状态长期贮存寿命评价研究

论文类型: 硕士论文

论文专业: 物理电子学

作者: 丁美斌

导师: 李晓华

关键词: 电真空器件,失效,管内气压,电离灵敏度

文献来源: 东南大学

发表年度: 2005

论文摘要: 对于某些用途的电真空器件,不要求它具有较长的使用寿命,但却要求经过长期贮存后仍能正常工作。如果这些器件的贮存寿命不能达到预定的要求,将会对整个系统的可靠性产生影响。本课题的目的就是建立电真空器件非工作状态贮存寿命的评价模型。从而能够根据这个评价模型来确定电真空器件的有效贮存时间。本论文借鉴了电真空器件使用寿命的研究方法和结论,结合其在非工作状态下的特殊性,得到其贮存寿命评价模型。本文首先研究电子器件失效的数学模型。在详细研究器件的三个失效期的基础上,提出用电子器件的偶然失效期作为电子器件的使用或贮存寿命的观点。在详细研究电真空器件失效机理的基础上,文中提出了影响长期贮存器件寿命的最重要因素是管内气压上升的结论。然后根据管内气压的变化情况,文中得出了根据管内气压的变化评价非工作状态电真空器件贮存寿命的模型。管内气压测量是通过测量它的各个电极在一定电压下的离子流,为了测量较小的离子流,文中设计了离子流放大电路,并使用该电路对显像管的离子流进行测量。对于测量管内气压时需要知道的电离灵敏度,常用的方法是对器件的电极电参数进行工程计算,文中提出了通过计算机模拟方法,通过模拟电子和离子在管内的运动得出器件的电离灵敏度。文中还提供了对一个简单电真空器件模型的模拟计算。文中介绍了速调管的工作原理、发展的趋势和所采取的关键技术。介绍了速调管寿命终结判断法及失效成因,以及工作状态下速调管的失效预示模式。针对非工作状态长期贮存速调管,文中提出了它的贮存寿命评价模型。

论文目录:

摘要

Abstract

前言

第一章 电子器件的失效分析的一般模型

第一节 电子器件的可靠性和失效分布

第二节 电子器件常见的失效分布

1.2.1 电子器件的失效规律

1.2.2 威布尔分布

1.2.3 指数分布

1.2.4 正态分布

1.2.5 对数指数分布

第三节 电子器件的失效模型

1.3.1 反应论模型

1.3.2 失效率模型

1.3.3 其它模型

第四节 电子器件的失效分析程序

第二章 电真空器件失效分析

第一节 电真空器件的失效机理

第二节 电真空管内气体来源及压强的变化

2.2.1 电真空器件管壁的漏气

2.2.2 电真空器件管内零部件的出气

2.2.3 管内气压的变化

第三节 电真空器件非工作寿命评价

2.3.1 电真空器件非工作状态下的失效率

2.3.2 电真空器件非工作状态下的偶然失效期

第三章 管内真空度的测量方法

第一节 离子流的大小与气体压强的关系

第二节 几种电真空器件的压强测量

3.2.1 几种电真空器件测量的电原理图

3.2.2 离子流的检测

3.2.3 CRT 管内压强的测量

第三节 离子流的模拟和电离灵敏度的模拟计算

第四章 速调管结构及原理

第一节 速调管的原理

4.1.1 速调管的工作原理

4.1.2 速调管的主要应用

4.1.3 速调管的发展趋势

4.1.4 多注速调管的关键技术问题

第二节 多注速调管发射机的设计及采用的关键技术

4.2.1 增益补偿技术

4.2.2 浮动板调制器技术

4.2.3 高压逆变电源多路并联技术

4.2.4 撬棒保护和电弧保护技术

4.2.5 液冷控制技术

第五章 速调管寿命评价

第一节 速调管在工作状态下寿命预示

5.1.1 速调管寿命终结判断法及成因

5.1.2 速调管失效预示模型

第二节 速调管在非工作状态下的寿命预示

5.2.1 速调管的失效机理

5.2.2 速调管真空度的测量

5.2.3 长期贮存速调管的寿命评价

结论

致谢

参考文献

作者在读期间发表的论文清单

发布时间: 2007-06-11

参考文献

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