数码相框芯片测试方案的开发及优化

论文摘要

现代社会,集成电路是信息产业和高新技术的核心,是推动国民经济和社会信息化的关键技术之一。集成电路的设计和工艺制造产业的飞速发展也为集成电路的测试提出了更高的要求。对于新产品来说,如何缩短产品从生产到投入市场的时间是至关重要的。因为时间直接决定产品的销售时机,影响其销售量。在产品生产初期就制定一套高效的测试解决方案,可以避免在测试程序开发阶段多走弯路,提高测试程序开发效率,有效的进行测试生产,使之快速投放市场。本文主要以DPF(Digital Photo Frame)芯片为例,介绍了新产品测试方案的制定,测试程序的开发及其优化的全过程。对于新的功能模块,结合既定的自动测试设备,对测试方法和测试实现进行了详细的研究和设计,使开发出来的测试程序能够更有效测试产品并具有一定的独创性。在测试程序开发完成投入量产测试后,依据生产取得的大量数据对测试程序进行优化,从而更有效的进行测试生产,节省测试成本。在实际应用方面希望通过本文可以对混合信号产品的测试开发提供一定的帮助。本文设计、开发的测试方法及测试程序已成功地应用于生产实践中,并已经取得令人满意的效果。

论文目录

• 摘要
• Abstract
• 前言
• 第一章 集成电路简介
• 第二章 混合信号集成电路测试
• 2.1 数字电路基本测试项介绍
• 2.1.1 参数测试
• 2.1.2 功能测试
• 2.2 混合信号测试简介
• 2.2.1 DAC测试简介
• 2.2.1.1 DAC静态参数测试
• 2.2.1.2 DAC动态参数测试
• 2.2.2 ADC测试简介
• 2.2.2.1 ADC静态参数测试
• 2.2.2.2 ADC动态参数测试
• 第三章 新产品测试开发流程
• 第四章 混合信号器件AK-D的测试方案
• 4.1 AK-D产品简介
• 4.2 AK-D产品测试计划
• 4.3 自动测试设备的评估
• 4.3.1 自动测试设备的选择
• 4.3.2 J750简介
• 4.3.2.1 J750的硬件结构
• 4.3.2.2 J750的软件体系
• 4.3.3 确定J750资源配置
• 4.4 Probe Card的设计
• 4.5 测试程序的开发
• 第五章 AK—D测试程序的编写
• 5.1 Continuity Test
• 5.2 Hi-Z Test-Verify IIH,IIL
• IDDStatic-Static IDD Test'>5.3 Test531_IDDStatic-Static IDD Test
• 5.4 Functional Test
• 5.5 DFT测试
• 5.5.1 Bist测试原理
• 5.5.2 Scan测试原理
• 5.5.3 DFT测试实现
• 5.6 Real Time Clock Oscillator Test
• 5.7 Panel DAC Tests
• 5.8 Audio Filter Test
• 5.9 LED PWM测试方法的研究
• 5.9.1 Comparator Threshold Test
• 5.9.2 Comparator Current Source Test
• 5.10 Touch Screen Test
• 5.10.1 Y+/X+MOSFET Switch Test和Y-/X-MOSFET Switch Test
• 5.10.2 ADC INL/DNL Test模数转换器（ADC）测试
• 5.10.3 Mux Input Test
• 5.10.4 Detect Mode Test
• 第六章 测试程序开发后期工作
• 6.1 通过工程测试结果选择最优化的生成工艺
• 6.2 测试程序的优化
• 6.2.1 通过对后期量产测试数据的研究达到测试程序的优化
• 6.3 采用并行测试节省测试成本
• 第七章 全文总结
• 参考文献
• 致谢