本文主要研究内容
作者潘齐凤,阳元江,刘桥,彭永燃（2019）在《基于混合威布尔模型的片式钽电容器早期失效分析》一文中研究指出：由于现行片式钽电容器威布尔失效率定级方法对失效数进行了两点式的线性化处理,忽略了击穿时间分布信息,不能为产品的早期失效分析提供有效线索。本文引入混合威布尔模型,采用电压加速方法,收集片式钽电容器的击穿时间分布信息,绘制累积密度失效分布曲线,分析显示其早期失效符合二重混合威布尔分布。基于威布尔分布形状参数与失效机理具有直接关联性的基本理论,分析了片式钽电容器潜在的失效原因,对优化生产工艺、提升质量和可靠性具有指导意义。
Abstract
you yu xian hang pian shi tan dian rong qi wei bu er shi xiao lv ding ji fang fa dui shi xiao shu jin hang le liang dian shi de xian xing hua chu li ,hu lve le ji chuan shi jian fen bu xin xi ,bu neng wei chan pin de zao ji shi xiao fen xi di gong you xiao xian suo 。ben wen yin ru hun ge wei bu er mo xing ,cai yong dian ya jia su fang fa ,shou ji pian shi tan dian rong qi de ji chuan shi jian fen bu xin xi ,hui zhi lei ji mi du shi xiao fen bu qu xian ,fen xi xian shi ji zao ji shi xiao fu ge er chong hun ge wei bu er fen bu 。ji yu wei bu er fen bu xing zhuang can shu yu shi xiao ji li ju you zhi jie guan lian xing de ji ben li lun ,fen xi le pian shi tan dian rong qi qian zai de shi xiao yuan yin ,dui you hua sheng chan gong yi 、di sheng zhi liang he ke kao xing ju you zhi dao yi yi 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自电子元件与材料的潘齐凤,阳元江,刘桥,彭永燃，发表于刊物电子元件与材料2019年04期论文，是一篇关于片式钽电容器论文,早期失效论文,经时介质击穿论文,混合威布尔模型论文,形状参数论文,失效机理论文,电子元件与材料2019年04期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自电子元件与材料2019年04期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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