论文摘要
缺陷在系统开发过程中是不可避免的，为了减少缺陷对系统造成的负面影响，进行缺陷管理是一种行之有效的方法。本文针对传统缺陷管理的不足，考虑到缺陷度量在系统开发过程中的重要作用，基于目前应用颇为广泛的能力成熟度模型(Capability Maturity Model——CMM)，在优化其现有流程的基础上对整个缺陷管理过程进行度量分析并应用统计控制技术，突破旧的模式，最终在现有缺陷管理模式的基础上有所创新。具体来说，本文的主要研究内容包括： (1) 对缺陷管理进行研究，阐述缺陷管理的要素，明确缺陷管理的目标以及与CMM之间的关系； (2) 针对当前缺陷管理存在的问题提出基于度量的缺陷管理方法，设计了一套缺陷管理评价指标体系，以某法院微机科日常管理系统开发过程中的信息作为数据源，应用该评价体系对缺陷数据进行度量分析，并引入权值进行综合评价； (3) 分析缺陷处理的流程，收集和整理缺陷信息，提出缺陷度量过程模型，对缺陷发展趋势进行统计分析，并将统计控制技术应用到缺陷度量中，以U控制图为载体达到对缺陷进行过程控制的目的，引入过程能力指数Cpk作为控制的衡量指标，以判断系统开发过程是否处于受控状态； (4) 运用VSS版本控制工具构建开发小组间的一个沟通平台，即时对缺陷信息进行共享，加强缺陷管理流程操作的交互性和及时性。 对缺陷管理的这种改进使整个缺陷管理过程升级到一个量化管理的阶段，并且可以很好地实现过程控制，在监控缺陷处理过程的同时提高缺陷管理的效率，减少工作量，控制系统的开发进度，协助改进系统开发过程，充分发挥了缺陷管理在系统开发过程中的作用。