论文摘要
ZnO薄膜作为一种新型宽带隙半导体材料,有其广泛应用。本文首先从理论上探讨了ZnO薄膜在微光器件中光电阴极上的潜在应用。并通过对少数载流子扩散方程的求解推导了ZnO光电阴极的量子效率。为了将ZnO光电阴极实用化,采用磁控溅射方法在Si衬底上制备了ZnO薄膜,深入研究了Si基ZnO薄膜的结构和光学等特性。为了提高Si基ZnO薄膜的质量,我们研究了引入A1203缓冲层,深入研究了不同厚度A1203缓冲层对ZnO薄膜结构和光学特性的影响,并给出了其规律。我们还探索性的开展了引入Ga203缓冲层技术,发现通过引入A1203缓冲层和Ga203缓冲层后,Si基ZnO薄膜的性质有了一定程度的提高,从而为制备Si基ZnO光电阴极和其它Si基ZnO光电子器件提供理论和技术支持。
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