DSO专用高速触发与时间内插MCM的研究

DSO专用高速触发与时间内插MCM的研究

论文摘要

多芯片组件(Multichip Module, MCM)技术是21世纪重要的微系统集成技术之一。MCM 系统设计灵活、集成度高、成本低,并且可以集成不同工艺的元器件。因此,在高密度的高速数模混合微系统集成领域中,MCM 技术具有独特的优势。本文研究的课题是为配合某500MHz 数字存储示波器(Digital Oscilloscope, DSO)的微型化的要求,集成该DSO 中高速触发与时间内插子系统,研制出满足性能指标要求的MCM 样品。本文将信号完整性(Signal Integrity, SI)以及电磁兼容性(Electromagnetic Compatibility, EMC)设计融入到高速MCM 的互连与封装设计中,同时兼顾组件的功耗与散热性、面积与集成度的要求。在借鉴国内外高速PCB 和MCM 的设计经验的基础上,我们提出了双面布局、六层布线的叠层多芯片组件(MCM-L) 结构,设计了4×16 引脚、双腔体、全金属的电磁屏蔽封装。使用Cadence 公司的SpecctraQuest 板级仿真工具,对基板上关键互连线进行了SI 仿真,优化了该MCM 的叠层参数,提出了布局、布线的SI 约束规则。针对可测试性问题,本文最后结合系统的指标要求,提出了该高速MCM 的测试方案。本文从抑制辐射源和切断RF 辐射的耦合途径两个方面,进行了EMC 设计。文中采用单偶极子、波导、谐振腔等物理模型,分别研究了MCM 封装中的引脚、管座的引脚过孔、管座腔体等物理结构。依照辐射发射限制的规定,计算了全金属封装管壳的引脚、腔体、壁厚、孔缝等尺寸参数以及屏蔽效能,为MCM 封装的材料选择、结构设计提供了理论指导。此外,我们采用小型环状天线模型,研究了MCM 基板上的瞬态开关大电流的串连谐振回路,从MCM 布局布线、电源/地平面布置、去耦电容放置等方面提出了重在抑制差模辐射的EMC 设计约束。

论文目录

  • 摘要
  • ABSTRACT
  • 目录
  • 第一章 引言
  • 1.1 高速多芯片组件的关键技术
  • 1.1.1 多芯片组件技术
  • 1.1.2 信号完整性分析
  • 1.1.3 电磁兼容设计
  • 1.2 本论文研究的意义
  • 1.3 技术指标及难点
  • 1.3.1 功能定义及工作原理
  • 1.3.2 主要技术指标
  • 1.3.3 技术难点
  • 1.4 本文的工作
  • 第二章 高速MCM 的基板设计
  • 2.1 基本理论
  • 2.1.1 传输线理论
  • 2.1.2 电流回路理论
  • 2.1.3 差模辐射理论
  • 2.1.4 电磁噪声及抑制技术
  • 2.2 理论计算
  • 2.2.1 延时裕度与时钟歪斜
  • 2.2.2 ECL 逻辑门的噪声裕度
  • 2.2.3 “电气长线”的临界长度
  • 2.2.4 阻抗控制
  • 2.2.5 允许的最大电流环路面积
  • 2.2.6 ECL 逻辑电路的功耗与热阻
  • 2.3 MCM 的基板设计
  • 2.3.1 基板材料与工艺选择
  • 2.3.2 叠层结构设计
  • 2.3.3 布局
  • 2.3.4 布线
  • 2.4 本章小结
  • 第三章 高速MCM 的封装设计
  • 3.1 基本理论
  • 3.1.1 近场与远场
  • 3.1.2 单偶极子与共模辐射
  • 3.1.3 趋肤效应
  • 3.1.4 屏蔽效能
  • 3.2 计算与分析
  • 3.2.1 单偶极子
  • 3.2.2 波导
  • 3.2.3 谐振腔
  • 3.2.4 屏蔽效能
  • 3.3 封装设计
  • 3.4 本章小结
  • 第四章 高速MCM 的SI 仿真与可测试性设计
  • 4.1 高速MCM 的SI 仿真
  • 4.1.1 设计流程与仿真工具
  • 4.1.2 仿真模型
  • 4.1.3 仿真结果
  • 4.1.3.1 确定叠层参数
  • 4.1.3.2 仿真关键“电气长线”
  • 4.2 高速MCM 的可测试性设计
  • 4.2.1 测试指标
  • 4.2.2 测试条件
  • 4.2.3 输出信号及测试点
  • 4.2.4 信号观测
  • 4.3 本章小结
  • 第五章 结论
  • 5.1 本文的结论
  • 5.2 下一步工作
  • 参考文献
  • 致谢
  • 个人简介及发表论文
  • 相关论文文献

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