论文摘要
本文利用多组态Dirac-Fock（MCDF）理论方法,系统研究了不同离化态下Ar离子产生的Kα和Kβ线的结构特征,并进一步分析了内壳层旁观洞态对Kα和Kβ线结构的影响。我们还以Ar16+离子的2pnl和3pnl（n=3,…,6;l=0,…,5）以及Ar14+离子的1s2s2pnl和1s2s3pnl（n=3,4,5;l=0,…,4）组态为例,研究了这些组态所产生的Kα和Kβ线的结构特征;并以Ar14+离子为例,分析了高n旁观电子对Kβ/Kα强度比值的影响。最后,本文以Zn+1为例,详细分析了内壳层旁观洞态对Kα和Kβ谱线结构以及Kβ/Kα强度比值的影响。 在对上述问题的讨论中,我们首先验证了Kα和Kβ线随离化度增加而“紫移”的规律,并发现Kβ线的“紫移”要比Kα线强。剥离1s、2l壳层电子而引起的Kα和Kβ线的“紫移”要强于剥离3l壳层电子的;最内层的1s旁观洞态产生的伴线与Kα和Kβ线离得较远,可以非常容易地与Kα和Kβ线区分开来;而较外层的2l、3l伴线与Kα和Kβ线相互重合,不易区分。对于Ar16+离子的2pnl和3pnl（n=3,…,6;l=0,…,5）以及Ar14+离子的1s2s2pnl和1s2s3pnl（n=3,4,5;l=0,…,4）类型跃迁所产生的伴线来说,nl越高的电子所产生的伴线与Kα和Kβ线离得越近;而且,相同nf旁观电子所产生的伴线离Kα线要比离Kβ线近。 我们比较谱线的峰值强度得到:离化度对Kβ/Kα强度比值的影响要比高n旁观电子及内壳层旁观洞态对Kβ/Kα强度比值的影响大。对于内壳层旁观洞态而言,2p壳层的洞态使Kβ/Kα强度比值增加,3p壳层的洞态使Kβ/Kα强度比值减少,而且随着旁观洞的数目的增加这种增加或减少的效果也逐渐加强。
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