氢化物气相外延生长GaN材料及其物性分析

氢化物气相外延生长GaN材料及其物性分析

论文摘要

近年来,GaN基半导体材料和器件取得了很大的进展,但是由于缺乏合适的衬底,限制了器件性能的进一步提高。氢化物气相外延(HVPE)技术由于生长速率高,能提供生长GaN自支撑衬底而逐渐受到重视。本文对HVPE生长GaN材料进行了研究,主要包括几个方面:第一,建立和完善HVPE系统,并模拟和设计反应室;第二,对HVPE外延生长GaN的成核生长进行研究;第三,采用一些新的方法提高GaN外延层的质量,降低位错密度等。获得的主要结果如下: 1、建立并完善了HVPE系统,采用计算流体力学有限元分析软件Fluent模拟并设计了该设备的反应室,并生长出高质量的GaN材料; 2、通过NH3气氮化蓝宝石衬底,摸索出了采用HVPE生长高质量GaN薄膜的优化成核条件; 3、首次采用HCl中断生长方法实现了外延生长GaN薄膜极性的改变,从N极性转变为Ga极性; 4、首次在HVPE中采用In辅助外延生长GaN薄膜,使外延层表面变得更加光滑平整,结晶质量也有所提高; 5、首次在HVPE中采用低温AlN插入层生长GaN薄膜,选择合适的高温退火条件,使AlN插入层的引入有助于提高GaN的结晶质量并释放应力; 6、首次采用阳极氧化铝(AAO)插入层作为掩膜来生长GaN薄膜,使结晶质量和光学性质都得到很大的改善; 7、首次采用金属W作为插入层来生长GaN薄膜,改进了外延层的结晶质量和光学特性,并降低了位错密度; 8、首次提出采用多孔GaN衬底在HVPE中生长无裂纹低位错密度的高质量厚膜GaN,并制备了多孔GaN薄膜。

论文目录

  • 摘要
  • Abstract
  • 目录
  • 第一章 引言
  • 第二章 文献综述
  • 2.1 GaN材料基本性质
  • 2.1.1 GaN的相态与结构
  • 2.1.2 电学特性
  • 2.1.3 光学特性
  • 2.2 GaN基材料与器件的广泛应用前景
  • 2.2.1 GaN蓝、绿光LEDs
  • 2.2.2 GaN蓝紫光激光器(LD)
  • 2.2.3 GaN基的电子器件和紫外光(UV)探测器
  • 2.3 GaN的生长方法介绍
  • 2.3.1 MOCVD生长技术
  • 2.3.2 MBE生长技术
  • 2.3.3 HVPE生长技术及其厚膜生长
  • 2.4 GaN基材料生长面临的问题及研究进展
  • 2.5 HVPE技术的研究历史与现状
  • 2.5.1 HVPE的研究历史
  • 2.5.2 采用HVPE生长的GaN薄膜来制备衬底的方法介绍
  • 2.5.3 制备自支撑衬底的最新进展以及存在的问题
  • 第三章 HVPE系统中的气流模拟计算
  • 3.1 本章序言
  • 3.2 流体力学基本概念和原理
  • 3.2.1 流体一些基本性质
  • 3.2.2 描述流体运动的方法
  • 3.2.3 流体运动的基本方程组
  • 3.2.4 流体力学中的理论模型
  • 3.3 Fluent软件群介绍
  • 3.3.1 Fluent软件群简介
  • 3.3.2 Gambit软件简介
  • 3.3.3 Fluent6求解器介绍
  • 3.4 HVPE系统的模拟计算及反应室的设计
  • 3.4.1 HVPE反应室的设计概述
  • 3.4.2 HVPE系统模型的建立
  • 3.4.3 边界条件的设定
  • 3.4.4 反应器中气流的模拟计算
  • 3.5 本章小结
  • 第四章 表面成核处理
  • 4.1 本章序言
  • 3氮化衬底对HVPE生长GaN的影响'>4.2 采用NH3氮化衬底对HVPE生长GaN的影响
  • 4.2.1 实验介绍
  • 4.2.2 结果与讨论
  • 4.2.3 氮化机理分析
  • 4.3 HCl中断生长对GaN极性的改变
  • 4.3.1 GaN材料极性介绍
  • 4.3.2 实验介绍
  • 4.3.3 实验结果分析与讨论
  • 4.3.4 极性转变的机理分析
  • 4.4 本章小结
  • 第五章 In辅助GaN膜的HVPE生长
  • 5.1 本章引言
  • 5.2 实验介绍
  • 5.3 结果与讨论
  • 5.4 本章小结
  • 第六章 低温AlN插入层技术生长GaN膜
  • 6.1 本章引言
  • 6.2 本章实验介绍
  • 6.2.1 采用20nm低温AlN插入层生长GaN膜的实验
  • 6.2.2 采用12nm和7nm低温AlN插入层生长GaN膜的实验
  • 6.2.3 本章采用的测试方法介绍
  • 6.3 实验结果与分析
  • 6.3.1 采用20nm的AlN插入层对HVPE中生长GaN膜的影响
  • 6.3.2 采用12nm的AlN插入层对HVPE中生长GaN膜的影响
  • 6.3.3 采用7nm的AlN插入层对HVPE中生长GaN膜的影响
  • 6.4 本章小结
  • 第七章 采用微区掩膜生长GaN材料
  • 7.1 采用微区掩膜的背景和意义
  • 7.2 采用阳极氧化铝(AAO)做掩膜生长GaN膜
  • 7.2.1 实验介绍
  • 7.2.2 实验结果与分析
  • 7.2.3 采用AAO掩膜生长GaN机理分析
  • 7.3 采用金属钨插入层生长氮化镓膜
  • 7.3.1 实验介绍
  • 7.3.2 实验结果与分析
  • 7.3.3 金属W插入层机理分析
  • 7.4 本章小结
  • 第八章 总结与展望
  • 8.1 取得的主要成果
  • 8.2 存在的问题及建议
  • 参考文献
  • 发表文章及申请专利目录
  • 致谢
  • 作者简历
  • 学位论文独创性声明
  • 学位论文使用授权声明
  • 相关论文文献

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