微互连焊点Cu-Sn金属间化合物晶粒取向及各向异性研究

微互连焊点Cu-Sn金属间化合物晶粒取向及各向异性研究

论文摘要

受高性能计算和电子器件小型化的驱动,硅通孔(Through Silicon Vias, TSV)工艺成为3D封装中芯片垂直互连的关键技术。但TSV中焊盘尺寸不断减小,所造成的焊点中金属间化合物(Intermetallic Compound, IMC)比例增加以及焊盘本身所含晶粒数目减少,会对界面IMCs取向产生影响。并且当焊点中IMCs比重增大、晶粒数目有限且具有一定的择优取向时,焊点的力学性能会产生较大的变化。因此,深入研究多、单晶焊盘上IMCs晶粒的取向及性能各向异性具有重要意义。本文对Sn3.0Ag0.5Cu/Cu微小焊点中的IMCs进行了系统研究。首先分别观察分析了多、单晶铜与Sn3.0Ag0.5Cu(SAC)钎料在不同重熔温度、时间、冷却速度和老化条件下界面Cu6Sn5的形貌,研究了不同形态Cu6Sn5的生长动力学;然后采用电子背散射衍射技术(Electron Backscatter Diffraction, EBSD)结合取向成像电子显微分析系统(Orientation Imaging Microscopy, OIM)分析的方法对Cu6Sn5晶粒与焊盘的取向关系进行了全面而系统研究,建立了Cu6Sn5形貌与取向的联系,并阐述了钎料基体内部中空结构Cu6Sn5的形成机理;最后采用纳米压痕等实验方法研究了Cu6Sn5的弹性及塑性各向异性。研究结果表明:焊点界面Cu6Sn5形貌与焊盘取向、工艺参数等因素有关,随重熔温度升高,Cu6Sn5由扇贝状向棱柱状转变,单晶焊盘上的棱柱状Cu6Sn5规则排列;Cu6Sn5表面纳米尺度Ag3Sn颗粒的形成机制可用活性物质的吸附理论解释;多晶铜焊盘上的Cu6Sn5晶粒和单晶铜在250℃下生成的扇贝状Cu6Sn5晶粒具有{0001}面和焊盘成30°~50°夹角的取向关系;SAC/单晶Cu界面在300℃时生成的规则棱柱状Cu6Sn5晶粒均具有{0001}晶面垂直于焊盘、{ 2110 }面平行于焊盘平面、<0001>晶向平行于Cu的<110>晶向的取向关系。这种择优取向是由于低的错配度导致的,且取向关系不受老化的影响;建立了Cu6Sn5晶粒形貌与取向之间的联系,钎料基体内中空结构Cu6Sn5的形成机理可以用晶体生长的布拉维法则进行解释。Cu6Sn5弹性模量存在各向异性,密排<0001>晶向的弹性模量最大,各向异性程度可达16.3%;不同取向焊盘上Cu6Sn5存在塑性各向异性,(001)单晶铜界面Cu6Sn5晶粒的平均Schmid因子各向异性最强烈,多晶铜最弱。

论文目录

  • 摘要
  • ABSTRACT
  • 第1章 绪论
  • 1.1 课题背景及研究目的
  • 1.2 国内外的研究现状
  • 1.2.1 Cu-Sn金属间化合物的晶体结构研究
  • 6Sn5晶粒的形貌和取向研究'>1.2.2 多晶铜和单晶铜界面Cu6Sn5晶粒的形貌和取向研究
  • 1.2.3 焊点界面IMCs生长动力学研究
  • 3Sn颗粒的研究'>1.2.4 焊点界面IMCs表面纳米Ag3Sn颗粒的研究
  • 1.2.5 微小焊点力学行为研究
  • 1.3 本文的主要研究内容
  • 第2章 材料及实验方法
  • 2.1 实验过程概述
  • 2.2 实验材料和设备
  • 2.2.1 实验材料
  • 2.2.2 实验设备
  • 2.3 试样制备及实验方法
  • 2.3.1 钎焊及老化
  • 2.3.2 SEM形貌观察试样制备
  • 2.3.3 EBSD试样制备及测试
  • 2.3.4 纳米压痕测试
  • 2.4 晶体取向测试及分析原理
  • 2.4.1 EBSD技术的工作原理
  • 2.4.2 晶体取向坐标的建立
  • 2.4.3 晶体取向图像表示原理
  • 2.5 本章小结
  • 第3章 SAC/Cu界面IMCs形貌及生长动力学研究
  • 3.1 SAC/Cu界面IMCs形貌观察
  • 3.1.1 重熔温度对界面IMCs形貌的影响
  • 3.1.2 重熔时间对界面IMCs形貌的影响
  • 3.1.3 冷却速度对界面IMCs形貌的影响
  • 3.1.4 等温老化对界面IMCs形貌的影响
  • 3.2 界面IMCs厚度计算及生长动力学研究
  • 3.2.1 Cu-Sn系统固-液反应过程及界面IMCs生长动力学
  • 3.2.2 Cu-Sn系统固态反应过程及界面IMCs生长动力学
  • 6Sn5表面纳米Ag3Sn颗粒的吸附现'>3.3 界面Cu6Sn5表面纳米Ag3Sn颗粒的吸附现
  • 3Sn颗粒形貌及影响因素'>3.3.1 纳米Ag3Sn颗粒形貌及影响因素
  • 3Sn颗粒的形成机制'>3.3.2 纳米Ag3Sn颗粒的形成机制
  • 3.4 本章小结
  • 6Sn5的取向分析'>第4章 SAC/Cu界面Cu6Sn5的取向分析
  • 6Sn5取向分析'>4.1 SAC/多晶Cu界面Cu6Sn5取向分析
  • 6Sn5取向分析'>4.1.1 多晶铜上250℃扇贝状Cu6Sn5取向分析
  • 6Sn5取向分析'>4.1.2 多晶铜上300℃不规则棱柱状Cu6Sn5取向分析
  • 6Sn5晶粒的取向差角分析'>4.1.3 多晶铜上不同形态Cu6Sn5晶粒的取向差角分析
  • 6Sn5取向分析'>4.2 SAC/单晶Cu界面Cu6Sn5取向分析
  • 4.2.1 (001)和(111)单晶铜取向确认分析
  • 6Sn5取向分析'>4.2.2 单晶铜上250℃扇贝状Cu6Sn5取向分析
  • 6Sn5取向分析'>4.2.3 单晶铜上300℃规则棱柱状Cu6Sn5取向分析
  • 6Sn5晶粒取向差角分析'>4.2.4 单晶铜界面Cu6Sn5晶粒取向差角分析
  • 6Sn5取向的影响'>4.2.5 老化对单晶铜上规则棱柱状Cu6Sn5取向的影响
  • 6Sn5晶粒取向结果讨论'>4.2.6 单晶铜界面Cu6Sn5晶粒取向结果讨论
  • 4.3 本章小结
  • 6Sn5晶体的性能各向异性研究'>第5章 Cu6Sn5晶体的性能各向异性研究
  • 6Sn5晶粒形貌与取向的关系'>5.1 Cu6Sn5晶粒形貌与取向的关系
  • 6Sn5中空结构的形成机理'>5.2 Cu6Sn5中空结构的形成机理
  • 6Sn5晶体弹性各向异性研究'>5.3 Cu6Sn5晶体弹性各向异性研究
  • 6Sn5晶体塑性各向异性研究'>5.4 Cu6Sn5晶体塑性各向异性研究
  • 5.4.1 施密特(Schmid)定律
  • 6Sn5晶粒的Schmid因子分布与计算'>5.4.2 界面Cu6Sn5晶粒的Schmid因子分布与计算
  • 5.5 本章小结
  • 结论
  • 参考文献
  • 攻读学位期间发表的学术论文
  • 致谢
  • 相关论文文献

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