论文摘要
集成电路的发展,使得电路板上器件的密集度愈来越高,随之产生的问题就是对密集芯片引脚以及其内部功能模块的探测也变得越来越难,而采用传统的探针测试已经无法满足这一变化。芯片封装密集化,引脚的增加,加之印制电路板的密度也越来越大,芯片之间的互连测试急需解决,同时芯片内部功能模块的测试也成为了一个难题。可测性设计的提出在一定程度上解决了以上提到的测试问题,它要求电路系统在设计之初就要考虑系统测试的问题,而基于边界扫描的测试技术就是一种把可测性深入到芯片内部的测试技术,完成各个层级的测试以及内建测试等。本文首先讨论了课题的背景和其意义,同时简要介绍了测试技术和操作系统的发展现状和趋势。之后设计了一种基于内建自测试的电路板故障诊断的嵌入式软件系统的方案。在硬件资源的基础之上,运行该系统实现电路板故障诊断的测试工作。软件系统以嵌入式操作系统为平台,结合各个功能模块,完成自动测试及网络化测试的需求,使得整个系统达到实时高效的要求,达到预期效果。
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