RAM芯片测试系统及其专用芯片设计

论文题目: RAM芯片测试系统及其专用芯片设计

论文类型: 硕士论文

论文专业: 无线电物理学

作者: 李伍松

导师: 郭东辉

关键词: 芯片测试,检测系统,设计

文献来源: 厦门大学

发表年度: 2005

论文摘要: 本文的工作是研究开发一套检测存储器芯片性能的测试平台系统,主要设计一款用于该系统中的关键专用芯片。本测试平台系统是用于对电子系统中广泛应用的外挂式存储器进行自动检测,它可根据测试人员的要求对测试数据进行配置,选定相关检测方法进行检测,具备了高效率、高覆盖率和可配置性等特点。为了具体介绍所要设计专用芯片的功能内容和技术原理,本文首先介绍了芯片检测技术现状,接着说明存储器的电路原理、故障类型和常用的存储器检测方法,然后针对外挂式RAM芯片检测的特点,提出RAM芯片直接存取测试法的改进策略,最后,进行本专用芯片的设计。本专用芯片的设计采用典型的自顶而下设计方法。首先对系统进行总体设计,定义了系统的各大模块,包括CPU接口模块、测试模块、RAM接口模块;接着对各个模块进行详细设计,主要包括模块详细功能框图的设计、状态机控制的设计和相关接口时序的设计,最后用Verilog HDL对系统的各个部分进行RTL级描述,并综合到FPGA上来实际兑现整个测试平台系统。其中,本专用芯片设计的特定性内容在于采用基于事务型验证的测试方法来构建了测试模块,改善了系统应用的测试速度;改进了直接存取测试法不仅能够查出RAM存储单元和周边电路的故障,还成功有效地解决了连线故障可能产生的误诊断。

论文目录:

摘要

Abstract

第一章绪论

1.1 芯片检测技术

1.2 关键技术问题

1.2.1 系统设计方法

1.2.2 芯片的检测算法

1.2.3 检测的可靠性

1.3 论文研究内容

第二章存储器电路原理与故障检测方法

2.1 存储器电路原理

2.1.1 基本结构功能

2.1.2 存储单元电路

2.2 存储器故障类型

2.2.1 阵列故障

2.2.2 周边逻辑故障

2.3 存储器故障检测方法

2.3.1 传统的测试方法

2.3.2 改进的测试方法

第三章检测系统的总体设计

3.1 系统需求

3.2 总体设计

3.2.1 总体功能设计

3.2.2 工作原理

3.3 寄存器资源

3.3.1 控制寄存器

3.3.2 状态寄存器

3.3.3 测试数据表

第四章系统功能模块的详细设计

4.1 CPU 接口模块

4.1.1 功能设计

4.1.2 接口参数定义

4.1.3 接口信号的时序设计

4.2 测试模块

4.2.1 功能设计

4.2.2 接口参数定义

4.2.3 具体实现

4.3 存储器接口模块

4.3.1 整体功能的设计

4.3.2 接口参数定义

4.3.3 具体实现

第五章测试系统的验证实现平台与功能仿真

5.1 验证技术方法

5.2 测试系统的验证实现平台

5.2.1 验证平台建立方法

5.2.2 本设计验证平台的构建

5.3 功能仿真验证

5.3.1 启动一次扫描测试

5.3.2 配置测试表测试

5.3.3 外部电路读取SRAM

第六章 FPGA 综合兑现与时序性能分析

6.1 FPGA 的功能与特点

6.2 本设计的FPGA 综合与时序分析

6.2.1 FPGA 综合

6.2.2 时序分析

第七章总结

参考文献

已发表文章

致谢

发布时间: 2006-12-11

参考文献

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