缺陷测高仪控制系统的研发

缺陷测高仪控制系统的研发

论文摘要

本文论述了缺陷高度测量在无损检测领域的重要性,针对钢焊缝X射线照相检验没有缺陷测高仪的现状,在总结和分析当前国内外相关课题的研究动向基础上,提出开发一种新型X射线照相缺陷测高仪的总体设计:该仪器以观片灯为背景光源,用笔式的传感器采集射线底片相关部位的信号,进行去噪和数字滤波处理,利用构建的缺陷测高模型和编制的软件处理模块,直接显示出缺陷高度。该缺陷测高仪具有结构小巧、操作方便、测量准确、实时显示之特点。 本文首先对黑度及其影响因素进行了研究,建立了不同透照条件下的缺陷高度测定模型,并对模型中各项因子进行了讨论和确定。通过实验验证,本文所建立的模型对缺陷高度测定误差在允许范围内。 本文对微弱信号的检测和采集进行了研究,确定了采样方式、采样频率,同时对整个系统方案进行了设计,主要包括采集系统的组成,软件的设计,以及AD转换功能模块,键盘功能模块的设计。 本文在系统的抗干扰方面采取了多种有效措施,主要从硬件和软件两方面实施,保证了系统运行的稳定性和工作的可靠性。 本文最后对开发的以观片灯为背景光源的射线照相缺陷测高仪进行了实验验证及误差修正,同时对装置的重复性进行了实验,结果表明本系统达到了预定的研制目的。

论文目录

  • 郑重声明
  • 摘要
  • Abstract
  • 1 绪论
  • 1.1 课题研究的意义
  • 1.2 国内外研究动向
  • 1.3 课题的提出和本文的工作
  • 2 缺陷高度测定模型的研究
  • 2.1 底片黑度及其影响因素
  • 2.2 缺陷测高数学模型研究
  • 2.2.1 平板焊缝透照布置的模型
  • 2.2.2 环焊缝透照布置的模型
  • 2.2.3 小直径管透照布置的模型
  • 2.3 缺陷测高模型各因子的确定
  • 2.4 实验验证
  • 2.5 本章小节
  • 3 数据采集及处理
  • 3.1 微弱信号检测方法的研究
  • 3.2 采样方式的选择
  • 3.3 采样频率的选择
  • 3.4 系统噪声分析与处理
  • 3.5 本章小节
  • 4 系统方案设计
  • 4.1 采集系统的研究
  • 4.2 硬件的设计
  • 4.3 软件设计
  • 4.4 功能模块的设计
  • 4.4.1 单片机的选择
  • 4.4.2 A/D转换功能模块
  • 4.4.3 键盘功能模块
  • 4.4.4 单片机主程序设计
  • 4.5 本章小节
  • 5 系统的抗干扰设计
  • 5.1 系统硬件抗干扰设计
  • 5.1.1 抑制干扰源
  • 5.1.2 切断干扰传播路径
  • 5.1.3 提高敏感器件的抗干扰性能
  • 5.2 系统软件抗干扰设计
  • 5.3 本章小节
  • 6 试验验证及修正
  • 6.1 信号采集测量误差修正
  • 6.2 系统的整体误差测量
  • 6.3 测量重复性试验
  • 7 结论
  • 致谢
  • 参考文献
  • 附录(攻读学位期间发表论文目录)
  • 相关论文文献

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