基于虚拟仪器的晶体管特性测试仪的研究

基于虚拟仪器的晶体管特性测试仪的研究

论文摘要

在电子类产品中,半导体器件是电路中最基础的、最重要的组成部分之一。可以毫不夸张地说,半导体器件奠定了现代电子技术的基础.而作为半导体器件基础组成部分的晶体管,它的正确使用是设计人员应该重视的问题。在科研实验中,面对种类繁多,功能各异的晶体管,研究人员需要用专用仪器检测其特性参数,根据检测结果筛选使用。虚拟仪器是基于计算机的软硬件测试平台,是一种既有普通仪器的基本功能,又有一般仪器所没有的特殊功能的高性能、低价格的新型仪器。虚拟仪器由计算机、应用软件和仪器硬件三部分构成,通过软件将计算机硬件资源与仪器硬件有机融合为一体,把计算机强大的数据处理能力和仪器硬件的测量、控制能力结合在一起,通过软件实现对被测数据的采集、显示、存储以及分析处理。本文简述了虚拟仪器的发展概况和LabVIEW软件的相关知识,介绍了传统晶体管图示仪的结构组成和工作原理。阐述了虚拟仪器中数据采集的相关知识,详细介绍了仪器中要用到的NI 6024E数据采集卡的结构及功能。最后在软件平台LabVIEW上建立了一套基于虚拟仪器的晶体管特性测试仪。本系统核心是采用NI LabVIEW 8.0开发的测试软件系统,它控制测试仪器完成所有的测试任务,包括晶体管特性测试电路所需要的各种扫描信号的产生,测试电路各节点电压信号的采集和通道控制,对数据采集卡采集信号的流程控制,采集数据的处理,仪器面板的设计,以及测试结果的显示、保存等。系统硬件包括NI 6024E数据采集卡,接线盒,外围测试电路和PC机。本仪器测试的对象为小功率晶体管,包括:各种二极管、双极性三极管、场效应管等。系统能够在硬件设备以及连线不变的前提下,改变软件程序就可以实现各种晶体管特性曲线的绘制和参数测试。为了使用方便,把各个测试任务的子程序整合在一个主程序下,利用软件编程就构成了一个多功能的测试仪器。最后对该晶体管特性测试仪进行了测试实验,并对实验结果进行了分析与处理。实验结果证明,所研制的测试仪达到了设计要求,其测试精度高,使用简单、方便,该仪器具有良好的扩展性和较高的性价比,能满足科研工作中对集成电路的MOSFET样管开启电压的高精度测试的要求。

论文目录

  • 摘要
  • ABSTRACT
  • 1 绪论
  • 1.1 论文研究的背景
  • 1.2 虚拟仪器简介
  • 1.3 LABVIEW 简介
  • 1.4 传统晶体管特性图示仪简介
  • 1.5 本文的主要研究内容
  • 2 虚拟仪器的数据采集
  • 2.1 数据采集系统的构成
  • 2.2 信号调理
  • 2.2.1 信号分类
  • 2.2.2 信号调理的方法
  • 2.3 测量系统的连接方式
  • 2.3.1 接地信号和浮动信号
  • 2.3.2 测量系统分类
  • 2.3.3 选择合适的测量系统
  • 3 NI 公司的数据采集卡简介
  • 3.1 数据采集卡的功能简介
  • 3.2 数据采集卡的软件配置
  • 3.3 多通道的采样方式
  • 3.3.1 循环采样
  • 3.3.2 同步采样
  • 3.3.3 间隔采样
  • 3.4 数据采集系统的构成
  • 3.4.1 缓冲(Buffer)
  • 3.4.2 触发(Triggering)
  • 3.5 模拟输入和模拟输出的相关参数
  • 3.5.1 模拟输入的参数
  • 3.5.2 模拟输出的参数
  • 3.6 NI 6024E DAQ 卡的工作原理及结构
  • 3.6.1 采集卡的模拟输入参数
  • 3.6.2 采集卡的模拟输出参数
  • 4 测试系统的构成及实现
  • 4.1 系统总体设计
  • 4.1.1 系统的设计要求
  • 4.1.2 系统总体结构
  • 4.2 外围测试电路及连接
  • 4.3 软件系统的组成
  • 4.3.1 仪器面板的构建
  • 4.3.2 功能框图的建立
  • 4.3.3 动态程序控制
  • 4.4 三极管特性曲线测试
  • 4.4.1 三极管输出特性曲线
  • 4.4.2 扫描信号源
  • 4.4.3 数据的采集与处理
  • 4.4.4 三极管输入特性曲线
  • 4.5 场效应管的特性测试
  • 4.6 部分晶体管测试结果
  • 5 结论
  • 5.1 完成的工作和成果
  • 5.2 改进和展望
  • 致谢
  • 参考文献
  • 附录
  • 相关论文文献

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