超二代微光像增管加速工作寿命试验探讨

论文摘要

本文从二代像增强管工作寿命的引入、定义出发,分析和阐述了工作寿命这一测试工艺参数的重要性。通过分析比较,本文论述了传统意义寿命试验与像增强器工作寿命试验的相同和不同之处,列举了目前国内外微光行业的寿命试验特别是加速试验方法,并对影响像增强管工作寿命的两个主要因素光电阴极和微通道板进行了详细分析。通过对国内外加速寿命试验和像增强管工作寿命试验方法的分析借鉴,结合我们二代近贴管二十多年的生产试验,特别是超二代管工作寿命试验积累的宝贵经验,本文提供了一种加速试验方法,在保证像增强管阴极灵敏度稳定性的前提下,采用一个对光电阴极影响最大的应力加倍的方法,以缩短工作寿命试验时间,减少生产周期以保证交货进度。通过大量超二代像增强管工作寿命试验数据的分析和产品交付后使用方的反馈信息看,采用目前所施加的应力水平而进行的加速工作寿命试验不会破坏性能良好的产品,同时剔除寿命短的早期失效产品,因而得出目前我们针对超二代像增强管制采用的加速工作寿命试验是有效可行的结论。

论文目录

• 摘要
• Abstract
• 1 绪论
• 1.1 课题的研究背景、意义
• 1.2 微光像增强器发展简介
• 1.3 国内外发展状况
• 1.3.1 国内
• 1.3.2 国外微光像增强器可靠性试验现状
• 1.4 主要研究内容和安排
• 2 基本理论分析
• 2.1 二代像增强管的工作寿命和工作寿命试验
• 2.2 一元线形回归和最小二乘法
• 2.3 一元线形回归方程的求解
• 2.4 辐射理论
• 3 超二代微光像增强器工作寿命
• 3.1 工作寿命的定义
• 3.2 工作寿命试验分析
• 4 影响像增强管工作寿命的因素
• 4.1 光电阴极
• 4.1.1 光电阴极衰退
• 4.1.2 光电阴极衰退因素分析
• 4.2 微通道板
• 4.2.1 微通道板寿命
• 4.2.2 离子反馈
• 4.2.3 离子阻挡层薄膜
• 4.2.4 微通道板电子清刷
• 4.2.5 MCP的离子清洗技术
• 4.2.6 材料对MCP的影响
• 5 加速工作寿命试验
• 5.1 试验比较
• 5.2 失效模式
• 5.3 失效判据
• 5.4 试验方案
• 5.5 试验应力
• 5.6 试验设备
• 5.7 试验样品确定
• 5.8 试验预处理
• 5.9 试验时间
• 6 试验数据分析
• 6.1 数据整理
• 6.2 数据分析
• 7 结论
• 致谢
• 参考文献
• 附表1