论文摘要
台式误码仪体积庞大、无法实现集成测试,论文研究了用于VXI总线集成测试系统的E1误码测试技术及其FPGA实现,具有重要的工程应用价值。论文首先论述了误码测试原理,给出基于VXI总线技术及虚拟仪器开发模式的集成测试系统误码测试方案。以国际标准和国家标准为依据,分析了各部分硬件电路原理,完成了模拟部分电路参数计算。仪器主要由电源供电、时钟产生、VXI总线接口、E1接口、FPGA控制、继电器控制等功能电路构成。根据仪器功能设计了FPGA内部逻辑框架,给出了伪随机序列产生、周期/随机性误码插入、本地图案同步、HDB3编解码、误码率测量等逻辑模块的设计原理。详细介绍E1通信协议中的单帧同步、复帧同步、CRC校验技术以及随机误码产生技术,并采用逐位检测方式设计了成帧器、解帧器和CRC校验逻辑。设计的误码测试仪,实现了所需的功能,并通过了国家相关部门的认证。现场实际使用情况表明该仪器具有较好的易用性和稳定性。
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