平板表面细微缺陷快速检测

平板表面细微缺陷快速检测

论文题目: 平板表面细微缺陷快速检测

论文类型: 硕士论文

论文专业: 光学

作者: 吴洪

导师: 丁良恩

关键词: 模拟处理,数字处理,平板表面检测

文献来源: 华东师范大学

发表年度: 2005

论文摘要: 在钢带、布匹、纸张、胶卷、玻璃、塑料薄膜等平板产品的大批量生产过程中,非接触的无损表面检测十分重要。光学测量是典型的非接触检测方法。其中,CCD(电荷耦合器件)测量是主要的表面测量方法之一。 在应用CCD进行快速检测时,数据的处理存在着两个主要的问题:一是处理速度慢,二是在弧形背景中判别缺陷。 在本文中,作者引入了模拟处理方法、视频信号微分和缺陷脉冲计数的技术。利用模拟电路速度快的特点,解决了图像处理慢的问题;利用视频信号微分技术,实现了抑制弧形背景,凸显缺陷毛刺;利用缺陷脉冲计数技术,把缺陷信号转变成为脉冲序列,通过对脉冲的计数,实现了缺陷的判别和报警;在使用模拟方法的同时,又结合了原有的数字处理方法,利用其保存信息完备,便于处理的特点,选择性处理图像,构成了模拟、数字双通道数据处理系统,兼有二者各自的优点。 本文中,作者详细描述了模拟通道处理的原理、检测系统各部分的硬件要求和相关硬件(缺陷检测模块、直流光源、DAC卡)的研制开发、配套检测软件的原理和开发研制以及最后实现的平板缺陷检测系统。 对已经完成的项目,作者又进一步测试了此平板检测系统,给出了主要性能指标,其中横向绝对分辨率接近0.1mm,扫描速率9k行/秒,并证明此系统能够实现平板表面细微缺陷的快速检测,验证了设计思想的正确性。通过对检测结果的分析,指出了该系统中存在照明光源及软件等方面的一些不足以及提升性能的具体方向和思路。

论文目录:

论文摘要

ABSTRACT

第一章 平板表面缺陷检测的主要方法和发展需求

第一节 平板表面缺陷的评价方法和需求

第二节 快速平台缺陷检测的主要方法及其特点

第三节 拟解决的主要问题

第二章 快速扫描CCD表面检测技术

第一节 现有的CCD数字信号处理技术及特点

第二节 大规模平板检测过程中对光电检测提出的要求

第三节 高速CCD扫描表面缺陷检测系统的设计方案

第三章 主要部件的研制

第一节 D/A转换及CCD视频

第二节 细微毛刺捕捉的微分技术

第三节 帧图像处理的3×3卷积及图像边缘增强

第四节 高稳定度直流照明光源设计与研制

第五节 系统运行及数据处理的主要流程

第四章 基本性能和技术指标

第一节 技术指标

第二节 基本性能

第五章 总结

附录

附录一 若干技术问题

附录二 部分程序代码

参考文献

后记

发布时间: 2007-01-24

参考文献

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