GaN材料的射频等离子体分子束外延生长及其掺杂特性研究

GaN材料的射频等离子体分子束外延生长及其掺杂特性研究

论文摘要

Ⅲ-N材料及其掺杂特性尤其是p型材料的性质,是影响其在电子和光电器件应用方面的主要因素。本论文内容围绕GaN材料的射频等离子体分子束外延生长及其掺杂特性研究展开。以探讨和解决高温微波器件用Ⅲ-N基材料的关键科学和技术问题为目标,重点对GaN材料特性及掺杂行为进行了深入的物理研究,取得了以下主要研究结果: 用RF Plasma MBE生长技术,通过对Ga束流清洗、高温氮化和低温缓冲层生长等工艺的优化,在白宝石衬底上外延GaN,获得了GaN的三维成核二维生长的生长模式。所得GaN材料XRD曲线半峰宽最佳值为560arcsec,典型值为700arcsec。 通过对不同分子束强度Ⅲ/V比生长的外延层的表面形貌、生长速率和PL谱等的测试分析,确定了RF Plasma MBE生长GaN的优化生长条件,为以后的GaN掺杂和器件结构材料外延等工作提供了材料生长基础。深入研究了Ⅲ/V比对于GaN光致发光性质的影响,发现富Ga条件生长的GaN的PL半峰宽比富N样品更窄,说明富Ga的GaN结晶质量较好。随着Ⅲ/V比增加,GaN带边峰往高能方向移动。富Ga条件生长的GaN出现黄带发光,其可能与GaN中生成能最低的VN和VGa等缺陷态有关。 采用RF Plasma MBE方法进行了GaN的Mg掺杂,研究了Mg掺杂温度、分子束强度Ⅲ/V比、生长温度等生长条件对于p型GaN电学和发光特性的影响,对于其中影响发光性质的有关缺陷和杂质态进行了探讨。研究了DAP、D+X、YL等发光峰随温度和Mg掺杂浓度的演变,并对其机理进行了分析。研究发现,DAP发光峰与Mg的掺杂浓度有一定的关系,在Mg轻掺和适度掺杂时,DAP复合占据PL谱的主导地位;当Mg重掺杂导致明显的自补偿效应时,DAP发光峰变弱,并且出现了黄带发光;随着分子束强度Ⅲ/V比增加,发光峰发生蓝移,空穴浓度相应增加;随生长温度的升高,空穴浓度也相应增加。 对于GaN材料的共掺技术进行了初步研究,采用Mg和Si对GaN进行了共掺杂,获得了p型电导的GaN,结合ADA模型分析了共掺效果,对于GaN共掺效应研究的进一步开展有指导意义。 采用RF Plasma MBE技术生长了AlxGa1-xN、InN和掺Si的GaN。在AlGaN的生

论文目录

  • 第一章 引言
  • 第二章 文献综述
  • 2.1 GaN基氮化物半导体材料的特性及其应用
  • 2.1.1 三代半导体技术
  • 2.1.2 GaN基材料特性
  • 2.1.3 材料性能及各方面的应用
  • 2.2 GaN基氮化物半导体材料的不同生长方法
  • 2.3 GaN分子束外延生长技术
  • 2.4 GaN中的缺陷与杂质
  • 2.4.1 GaN中的本征缺陷和非故意掺杂杂质
  • 2.4.2 半导体中基本的辐射复合跃迁过程
  • 2.5 GaN的掺杂方法与存在的问题
  • 2.5.1 非故意掺杂的GaN
  • 2.5.2 氮化物的掺杂剂
  • 第三章 氮化物材料的分子束外延生长与表征
  • 3.1 射频等离子体分子束外延系统
  • 3.2 分子束外延生长氮化物材料的基本步骤
  • 3.3 束流的校准
  • 3.4 Ⅲ-N材料的MBE生长
  • 3.4.1 Ⅲ-N材料的生长相图
  • 3.4.2 AlGaN的生长
  • 3.4.3 InN的生长
  • 3.4.4 GaN的Si掺杂
  • 3.5 Ⅲ-N材料的表征方法
  • 3.5.1 结构特性表征
  • 3.5.2 光学特性表征
  • 3.5.3 电学特性表征
  • 3.6 本章小结
  • 第四章 Ⅲ/Ⅴ比对GaN等离子体辅助MBE生长的影响
  • 4.1 Ga-rich和N-rich
  • 2O3)上外延层生长GaN'>4.2 白宝石(a-Al2O3)上外延层生长GaN
  • 4.3 GaN的RF Plasma-assisted MBE生长工艺优化
  • 4.3.1 白宝石衬底的Ga原子清洗
  • 4.3.2 白宝石衬底的高温氮化
  • 4.3.3 低温缓冲层工艺
  • 4.4 Ⅲ/Ⅴ比对GaN MBE生长的影响
  • 4.4.1 RHEED对GaN表面的表征
  • 4.4.2 Ⅲ/Ⅴ比对GaN表面和生长速率的影响
  • 4.4.3 Ⅲ/Ⅴ比对GaN光致发光性质的影响
  • 4.4.3.1 Ⅲ/Ⅴ比对GaN的PL性质的影响
  • 0X机理和跃迁过程'>4.4.3.2 D0X机理和跃迁过程
  • 4.5 本章小结
  • 第五章 RF Plasma MBE生长P型GaN及掺杂研究
  • 5.1 Mg掺杂对于GaN基器件的影响
  • 5.2 GaN的Mg掺杂存在问题
  • 5.3 不同Mg掺杂温度对于GaN材料的影响
  • +X复合发光'>5.3.1 p型GaN中的DAP和D+X复合发光
  • 5.3.2 p型GaN中YL形成原因
  • 5.3.3 p型GaN和非故意掺杂GaN的YL比较
  • 5.4 不同Ⅲ/Ⅴ比对于GaN材料的影响
  • 5.5 不同生长温度对于GaN材料的影响
  • 5.6 本章小结
  • 第六章 GaN共掺技术的初步研究
  • 6.1 共掺技术的原理
  • 6.2 GaN进行Mg和Si共掺的实验结果
  • 6.3 本章小结
  • 第七章 总结
  • 参考文献
  • 发表论文目录
  • 学位论文独创性声明
  • 学位论文使用授权声明
  • 相关论文文献

    • [1].GaSb衬底上分子束外延生长的低温GaSb薄膜的低缺陷表面(英文)[J]. 红外与毫米波学报 2017(02)
    • [2].掺Te的GaSb薄膜分子束外延生长及缺陷特性[J]. 红外与毫米波学报 2012(04)
    • [3].图形化Silicon-on-Insulator衬底上分子束外延生长可动GaN微光栅的研究[J]. 光谱学与光谱分析 2017(06)
    • [4].卓以和院士:创新不能只想“捞本儿”[J]. 中国科技信息 2012(15)
    • [5].分子束外延生长单层CrI_3(英文)[J]. Science Bulletin 2020(13)
    • [6].分子束外延生长InAsSb材料的组分控制(英文)[J]. 红外与毫米波学报 2016(04)
    • [7].TiO_2掺Cu薄膜对LaAlO_3衬底拉曼谱增强的影响[J]. 中国科技论文 2013(03)
    • [8].Si(001)衬底上闪锌矿ZnO的制备与分析[J]. 发光学报 2010(02)
    • [9].LaTiO_3(110)薄膜分子束外延生长的精确控制和表面截止层的研究[J]. 物理学报 2015(07)
    • [10].SrTiO_3(001)衬底上单层FeSe超导薄膜的分子束外延生长[J]. 物理学报 2014(02)
    • [11].稀磁半导体TiMnO_2分子束外延生长和磁学性质[J]. 半导体技术 2008(S1)

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