金刚石基LiNbO3压电薄膜的制备与声表面波性能研究

金刚石基LiNbO3压电薄膜的制备与声表面波性能研究

论文摘要

随着现代电子设备信息处理量的扩大,通信载波频率必须向更高的频段移动,声表面波(SAW)滤波器是现代无线移动通信系统的关键器件之一,其频率f由材料的声表面波传播速度V和叉指电极周期L决定,f=V/L。由于所采用的压电材料及光刻技术的局限,目前声表面波器件的工作频率很难达到GHz。金刚石(diamond)是所有物质中声表面波传播速度最快的材料,以金刚石为基底在现有的光刻工艺条件下易于制备GHz的薄膜型SAW器件,然而金刚石本身不具有压电性能,不能激发声表面波,必须在其上镀一层压电层,如LiNbO3等。因此,以金刚石为基底制备高频SAW器件成为当前国际上的研究热点。本文利用PLD技术在diamond/Si衬底上通过引入缓冲层制备高度c轴取向的LiNbO3压电膜,系统探讨了工艺参数对LiNbO3压电薄膜的结晶质量、c轴取向及表面形貌的影响。通过研究得到以下结果:1.采用PLD技术首次在以非晶Si02为缓冲层的diamond/Si衬底上制备出了具有良好晶体质量且完全c轴取向LiNbO3薄膜。探索了工艺参数对LiNbO3膜取向性和晶体质量的影响,获得了制备完全c轴取向LiNbO3薄膜的最佳工艺参数:衬底温度约为650℃,氧压约为40Pa,激光能量密度约为3.6J/cm2,激光重复频率约为3Hz,靶材与衬底距离约为4.0cm。2.采用PLD技术首次在以c轴取向ZnO薄膜为缓冲层的diamond/Si衬底上制备出了具有良好晶体质量的高c轴取向LiNb03薄膜。探索了衬底温度、氧气压强等参数对LiNbO3膜取向性和晶体质量的影响,得到了制备高c轴取向LiNbO3薄膜的最佳工艺参数:衬底温度约为600℃,氧压约为40Pa,激光能量密度约为3.0J/cm2,激光重复频率约为3Hz,靶材与衬底距离约为4.0cm。3.将制好的基片制作成器件进行SAW测试,获得了8000m/s以上的声表面波速度,声表面波速度的提高有利于制作高频的SAW器件。

论文目录

  • 摘要
  • Abstract
  • 目录
  • 1 文献综述
  • 1.1 声表面波技术和声表面波器件
  • 1.1.1 SWA技术的发展
  • 1.1.2 SAW器件的原理和应用
  • 1.1.3 SAW器件的发展方向
  • 1.2 声表面波材料
  • 1.3 金刚石基压电薄膜声表面波器件研究进展
  • 1.3.1 薄膜声表面波器件
  • 3/diamond/Si多层薄膜结构研究'>1.3.2 LiNbO3/diamond/Si多层薄膜结构研究
  • 3薄膜存在的问题'>1.3.3 制备LiNbO3薄膜存在的问题
  • 1.4 本文的立项依据和主要工作
  • 2 实验原理和实验过程
  • 2.1 脉冲激光沉积(PLD)
  • 2.1.1 脉冲激光沉积简介
  • 2.1.2 PLD机制
  • 2.2 PLD薄膜制备系统简介
  • 3薄膜的制备工艺'>2.3 LiNbO3薄膜的制备工艺
  • 2.3.1 靶材的制备
  • 3薄膜的过程'>2.3.2 PLD制备LiNbO3薄膜的过程
  • 2.3.3 分析表征方法
  • 3/SiO2/diamond/Si多层薄膜结构的制备'>3 LiNbO3/SiO2/diamond/Si多层薄膜结构的制备
  • 2的制备'>3.1 缓冲层SiO2的制备
  • 2薄膜的制备工艺'>3.1.1 SiO2薄膜的制备工艺
  • 2薄膜的结构表面分析'>3.1.2 SiO2薄膜的结构表面分析
  • 3.1.3 引入缓冲层的必要性
  • 3薄膜质量的影响'>3.2 工艺参数对LiNbO3薄膜质量的影响
  • 3薄膜的影响'>3.2.1 衬底温度对LiNbO3薄膜的影响
  • 3薄膜质量的影响'>3.2.2 氧气压强对LiNbO3薄膜质量的影响
  • 3薄膜质量的影响'>3.2.3 激光能量密度对LiNbO3薄膜质量的影响
  • 3薄膜质量的影响'>3.2.4 靶基距对LiNbO3薄膜质量的影响
  • 3薄膜质量的影响'>3.2.5 激光重复频率对LiNbO3薄膜质量的影响
  • 2缓冲层厚度对LiNbO3薄膜质量的影响'>3.2.6 SiO2缓冲层厚度对LiNbO3薄膜质量的影响
  • 3.3 小结
  • 3/ZnO/diamond/Si多层薄膜结构的制备'>4 LiNbO3/ZnO/diamond/Si多层薄膜结构的制备
  • 4.1 ZnO缓冲层的制备
  • 4.1.1 ZnO缓冲层的制备工艺
  • 4.1.2 ZnO薄膜分析
  • 3薄膜质量的影响'>4.2 不同工艺参数对LiNbO3薄膜质量的影响
  • 3薄膜质量的影响'>4.2.1 衬底温度对LiNbO3薄膜质量的影响
  • 3薄膜质量的影响'>4.2.2 氧气压强对LiNbO3薄膜质量的影响
  • 4.3 小结
  • 5 SAW性能测试
  • 5.1 器件的制备
  • 5.2 测试结果及分析
  • 5.2.1 SAW性能测试一
  • 5.2.2 SAW性能测试二
  • 5.3 小结
  • 6 总结
  • 参考文献
  • 致谢
  • 个人简历 在校发表的论文与研究成果
  • 相关论文文献

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