本文主要研究内容
作者曾威,宋红,任涛,魏柳兴（2019）在《基于Gamma过程的水下连接器密封性能退化随机模型》一文中研究指出：水下连接器服役期间密封性能退化现象客观存在,为准确获得不同时刻连接器的密封性能指标,考虑密封面接触应力和有效接触长度对水下连接器密封性能的影响,以密封接触强度为连接器密封性能评价指标,建立连接器密封性能有限元分析模型,结合Norsok腐蚀速率预测模型,获得不同时刻连接器密封接触强度指标。以此作为密封性能退化数据,根据密封性能退化过程随机性与不可逆性特点,采用Gamma过程建立连接器密封性能退化随机模型,形成水下连接器密封性能退化模型建模新方法。
Abstract
shui xia lian jie qi fu yi ji jian mi feng xing neng tui hua xian xiang ke guan cun zai ,wei zhun que huo de bu tong shi ke lian jie qi de mi feng xing neng zhi biao ,kao lv mi feng mian jie chu ying li he you xiao jie chu chang du dui shui xia lian jie qi mi feng xing neng de ying xiang ,yi mi feng jie chu jiang du wei lian jie qi mi feng xing neng ping jia zhi biao ,jian li lian jie qi mi feng xing neng you xian yuan fen xi mo xing ,jie ge Norsokfu shi su lv yu ce mo xing ,huo de bu tong shi ke lian jie qi mi feng jie chu jiang du zhi biao 。yi ci zuo wei mi feng xing neng tui hua shu ju ,gen ju mi feng xing neng tui hua guo cheng sui ji xing yu bu ke ni xing te dian ,cai yong Gammaguo cheng jian li lian jie qi mi feng xing neng tui hua sui ji mo xing ,xing cheng shui xia lian jie qi mi feng xing neng tui hua mo xing jian mo xin fang fa 。
论文参考文献
论文详细介绍
论文作者分别是来自科学技术与工程的曾威,宋红,任涛,魏柳兴，发表于刊物科学技术与工程2019年04期论文，是一篇关于水下连接器论文,密封性能论文,退化模型论文,密封接触强度论文,科学技术与工程2019年04期论文的文章。本文可供学术参考使用，各位学者可以免费参考阅读下载，文章观点不代表本站观点，资料来自科学技术与工程2019年04期论文网站，若本站收录的文献无意侵犯了您的著作版权，请联系我们删除。
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