一维硫属化合物纳米材料的可控合成及相关NANO/MEMS器件特性研究

一维硫属化合物纳米材料的可控合成及相关NANO/MEMS器件特性研究

论文摘要

本论文分两部分,第一部分系统研究了一维硫属化合物纳米材料的可控合成、表征、掺杂、合金化以及相关的硫属化合物基一维纳米器件(NANO device)的制备、性能测量与分析。内容主要包括:(1)利用氢辅助热蒸发法制备Cd0.9Mn0.1S纳米带、PbS纳米棒阵列;单晶外延生长CdE (E=Se, S)纳米线阵列;利用硫化法制备CdSXSe1-X三元合金纳米带;并对上述一维纳米材料进行了详细的结构表征和光学性能研究。(2)采用微加工技术在硅基底上制备单根CdSXSe1-X三元合金化合物纳米带场效应管,详细研究了CdS0.25Se0.75纳米带的电输运性能。(3)讨论了CdE纳米阵列作为场发射阴极材料时其场发射的特性。第二部分研究了多晶硅微电子机械系统(Microelectromechanical System,MEMS)器件表面粘附力的测量、模拟和计算。内容主要包括:(1)以双固支梁(DCB)为研究对象,对其表面粘附力进行了估算。(2)以悬臂梁阵列(CBA)为研究对象,对其表面粘附能进行了估算。本文取得了以下主要研究成果:1、在氢气辅助的条件下通过热蒸发法成功的合成制备出CdSe、CdS纳米线阵列。所得的CdSe、CdS都具有优异的单晶性能,无探测到明显缺陷。CdSe纳米线是通过同质外延从较大的单晶CdSe微米棒上生长出来,这种CdSe主干—枝状的纳米结构还是第一次在公开报道。CdS的纳米线是异质外延从较大的单晶CdSe微米片上生长出来。CdSe和CdS产物高度的有序性,使得其光致发光性能优越。特别是CdSe的光致激光性能得以观测,主要是归功于其高度有序的一维纳米线阵列的形貌。以及氢辅助法制备PbS纳米棒阵列过程中,提出了自催化与VLS共同作用的机制生长PbS阵列。2、提出一种禁带连续可调的三元硫属半导体化合物纳米带的制备方法—硫化法,可从原理上确保制备出组分均一、成分连续可调的CdSXSe1-X纳米带,且制备过程可控性重复性好。并且实现了其光致发光波长在542到668 nm间的连续可调。3、得到一种简便而且经济的制备Cd0.9Mn0.1S纳米带的方法——氢辅助热蒸发法。产物的形貌可以通过控制反应的温度以及压强来调控,如纳米带,纳米线都能通过这种方法实现。在对所得产物进行光致发光性能测试时,发现其发射光谱分别在515和596 nm处呈现发射峰。其中596 nm处的发射峰强度大而且尖锐,此峰来源于Mn2+的3d轨道3d轨道之间的4T1-6A1跃迁,此峰的峰位较以前的报道略有红移。而在515 nm处的发射峰强度低而且峰型宽,是由纳米带的表面态缺陷所致。4、通过应用微加工工艺手段成功制备了单根CdSXSe1-X纳米带的场效应管。测试得出该场效应管的阈值栅压VT= 4.9 V,跨导gm= 95 nS,开关比为105。我们还得到当Vds=0.8 V时,CdS0.25Se0.75纳米带的电子迁移率μn≈14.8 cm2/(V s),载流子浓度ne≈3.9×1016cm-3。这说明了CdSSe纳米带在光电器件领域的巨大应用潜力。5、通过对CdSe和CdS纳米线阵列场发射性能的研究,我们发现CdSe纳米线阵列作为阴极场发射材料在电流密度为10μA/cm2开启场强约为4.3 V/μm,电流密度为1.0 mA cm–2时阈值场强约为6.3 V/μm。CdS纳米线阵列在电流密度为10μA/cm2开启场强约为9 V/μm,场发射的场增强因子约为550,而且它们场发射的稳定性都很好。这说明CdS与CdSe纳米阵列都能应用于实际的场发射器的构造。6、探讨如何通过实验与模拟相结合的方法确定多晶硅MEMS器件表面间粘附力。通过对双固支梁结构(DCB)的实验测量与模拟确定了其接触表面间的粘附力的大小。推导出了适用于计算DCB器件表面粘附力的公式模型。探讨了器件表面粘附力的大小与接触面积间的存在二次函数关系,这个二次函数模型对于不同环境下工作的器件是不同的。这对于MEMS器件的制造设计起到了很好的指导作用。用实验的方法测量出多晶硅悬臂梁阵列(CBA)结构的表面的粘附能,其平均值为13 mJ/m2。此数值与其它文献报道的数据(10-20 mJm-2)相符合。

论文目录

  • 摘要
  • ABSTRACT
  • 致谢
  • 第一章 绪论
  • 1.1 引言
  • 1.2 一维纳米材料可控合成
  • 1.3 纳米光电器件的研究现状
  • 1.4 有关MEMS 器件表面粘附力的研究现状
  • 1.5 本文选题背景、研究动机和总体结构
  • 第二章 CdE(E=S, Se)、PbS 纳米线/棒阵列的气相合成及发光研究
  • 2.1 CdE (E=S, Se) 纳米线阵列的气相合成及发光研究
  • 2.1.1 CdE(E=S, Se) 的基本性质、晶体结构
  • 2.1.2 一维CdS 纳米材料的气相合成研究现状
  • 2.1.3 一维CdE 纳米材料的光电性质研究现状
  • 2.1.4 CdE (E=S, Se) 纳米线阵列的制备与发光性质
  • 2.1.4.1 一维纳米材料制备的实验装置
  • 2.1.4.2 CdE 纳米阵列制备的实验过程
  • 2.1.4.3 CdSe 纳米线阵列的结构表征与光学性质
  • 2.1.4.4 CdS 纳米线阵列的结构表征
  • 2.2 PbS 纳米棒阵列的制备及表征
  • 2.2.1 引言
  • 2.2.2 实验部分
  • 2.2.3 PbS 纳米棒阵列的物相与结构
  • 2.2.4 PbS 纳米棒阵列的形貌演变及生长机制
  • 2.3 本章小结
  • 第三章 三元合金化及掺杂CdE 半导体纳米带的合成与发光研究
  • XSe1-X 纳米带及发光研究'>3.1 硫化法制备组分均一可控CdSXSe1-X纳米带及发光研究
  • 3.1.1 前言
  • 3.1.2 实验部分
  • 3.1.3 结果表征与讨论
  • 3.1.3.1 产物形貌与晶体结构表征
  • 3.1.3.2 三元纳米带的生长机理
  • XSe1-X 的光致发光与激光研究'>3.1.3.3 CdSXSe1-X的光致发光与激光研究
  • 3.2 氢辅助法制备Mn 掺杂CdS 纳米带及发光性质的研究
  • 3.2.1 引言
  • 3.2.2 实验部分
  • 3.2.3 结果和讨论
  • 3.3 本章小结
  • XSe1-X纳米带场效应管的制备与性能研究'>第四章 CdSXSe1-X纳米带场效应管的制备与性能研究
  • 4.1 有关半导体纳米线/带场效应管的研究进展
  • 4.2 基于一维半导体纳米线/带的FET 制备工艺方法
  • 4.2.1 纳米器件的制备工艺
  • 4.2.2 纳米带FET 制备工艺流程
  • XSe1-X 纳米带FET 性能研究'>4.3 CdSXSe1-X 纳米带FET 性能研究
  • 4.4 本章小结
  • 第五章 基于CdS、CdSe 纳米线阵列场发射原型器件研究
  • 5.1 场发射基本原理
  • 5.2 场发射测试方法及原理
  • 5.3 CdSe 、CdS 纳米线阵列的场发射性质
  • 5.3.1 一维无机半导体纳米结构的场发射研究现状
  • 5.3.2 CdSe 纳米线阵列的场发射性能研究
  • 5.3.3 CdS 纳米线阵列的场发射性能研究
  • 5.4 本章小结
  • 第六章MEMS 器件表面粘附力的研究
  • 6.1 应用双固支梁结构(DCB)测定多晶硅表面的粘附力
  • 6.1.1 引言
  • 6.1.2 实验部分
  • 6.1.2.1 器件结构的制造与表面处理
  • 6.1.2.2 器件表面粘附力的测量
  • 6.1.3 结果和讨论
  • 6.1.3.1 表面性质
  • 6.1.3.2 DCB 结构的刚度分析
  • 6.1.3.3 有限元模拟
  • 6.1.3.4 粘附力的确定
  • 6.1.3.5 不同环境下的粘附力
  • 6.1.4 结论
  • 6.2 应用悬臂梁阵列(CBA)测定多晶硅表面吸附能
  • 6.2.1 引言
  • 6.2.2 实验过程
  • 6.2.3 结果讨论
  • 6.2.4 结论
  • 6.3 本章小结
  • 第七章 全文总结
  • 参考文献
  • 攻读博士学位期间完成的论文与专利
  • 相关论文文献

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