论文摘要
随着MEMS及纳米科技的进步,悬臂梁探针在扫描探针显微镜、隧道传感器、微纳米加工、高密度数据存储中的应用越来越多,微纳米针尖的曲率半径及悬臂梁的性能决定着传感器的灵敏度。本文以硅微悬臂梁探针的制备为研究对象,采用单晶硅材料,结合湿法腐蚀和干法刻蚀的方法制备硅微悬臂梁探针。首先采用湿法各向异性腐蚀及干法刻蚀的方法制备纳米硅尖,研究了两种方法的特点,制作出不同形状的硅尖。采用干法刻蚀的方法制备出纵横比约为1.1的四面体硅尖。采用KOH溶液各向异性腐蚀单晶硅的方法制备硅尖,研究了腐蚀溶液的浓度、添加剂异丙醇(IPA)、掩模的偏转方向对硅尖形状的影响以及硅尖的锐化方法,制备出纵横比0.52~2.1的硅尖。提出了硅尖晶面的判别方法,讨论了实验中出现的两种硅尖晶面类型{411}和{331}晶面族。通过分析腐蚀溶液的浓度和添加剂对{411}、{331)晶面族腐蚀速度的影响,得到了制备纳米硅尖的工艺参数:在78℃、浓度40%的KOH溶液中腐蚀硅尖,硅尖侧壁由与(100)面夹角为76.37°的{411}晶面组成,经980℃氧化削尖,可以制备出纵横比大于2的纳米硅尖阵列。设计三种硅微悬臂梁探针的制备工艺方案,选取其中一种方案制备硅悬臂梁探针,并优化掩膜版图及工艺流程。采用湿法各向异性腐蚀单晶硅的方法制备了长宽450μm×50μm、硅尖纵横比2、高10μm、尖端曲率半径小于50nm的硅微悬臂梁探针;采用干法刻蚀的方法制备了长宽230μm×40μm、硅尖纵横比1.1、高14μm的硅微悬臂梁探针。采用两种方法均实现了硅尖和悬臂梁工艺的兼容,达到了预期目标,为硅微悬臂探针在传感器中的应用打下了良好的基础。
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摘要Abstract1 绪论1.1 悬臂梁探针的概述1.1.1 悬臂梁探针与纳米科技1.1.2 悬臂梁探针在扫描探针显微镜中的应用1.2 悬臂梁探针的国内外研究现状1.3 本课题的研究意义及内容2 硅微悬臂梁探针制备的基础理论2.1 微悬臂梁探针相关理论2.1.1 微悬臂梁探针变形检测方式2.1.2 微悬臂梁探针的工作模式2.1.3 微悬臂梁探针结构及要求2.1.4 微悬臂梁探针的材料2.2 硅晶体基本理论2.2.1 硅晶体结构及性能2.2.2 晶面参数2.3 硅微机械加工方法2.3.1 湿法各向异性腐蚀2.3.2 湿法各向同性腐蚀2.3.3 干法刻蚀2.3.4 硅的氧化2.3.5 溅射2.4 本章小结3 硅尖的制备工艺研究3.1 湿法各向异性腐蚀制备硅尖3.1.1 湿法腐蚀硅尖时间的控制3.1.2 硅尖的锐化削尖3.1.3 硅尖晶面类型的判别方法3.1.4 腐蚀液浓度对硅尖形状的影响3.1.5 添加剂对硅尖形状的影响3.1.6 掩模偏转对硅尖形状的影响3.1.7 矩形掩模对硅尖形状的影响3.2 干法刻蚀制备硅尖3.2.1 DRIE刻蚀硅尖3.2.2 ICP刻蚀硅尖3.3 本章小结4 硅微悬臂梁探针的制备工艺研究4.1 硅微悬臂梁探针的制备工艺方案设计及优化4.1.1 硅微悬臂梁探针的工艺方案设计4.1.2 硅微悬臂梁探针的结构及掩膜版图设计4.1.3 制备硅微悬臂梁探针的关键工艺研究4.1.4 工艺中存在的问题及解决方法4.1.5 优化工艺流程及版图结构4.2 湿法腐蚀制备硅微悬臂梁探针4.3 干法刻蚀制备硅微悬臂梁探针4.4 本章小结结论参考文献攻读硕士学位期间发表学术论文情况致谢
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