针对混合信号测试的高效ATE测试解决方法的研究与实现

论文摘要

随着半导体技术的不断发展和国内消费电子市场的不断成熟,混合信号类器件市场竞争越来越激烈,控制器件的生产成本成为了取胜重要因素。而测试成本往往占据了器件生产成本的很大比例。高效的ATE测试方案可以缩短测试时间,降低测试成本,提高测试质量,真实反映器件测试结果。为控制器件生产成本提供显著贡献。混合信号类器件测试一般有测试时间长,并行效率低,模拟信号易受干扰,测试不稳等问题。本论文在对传统混合信号类器件测试方案的分析基础上,提出了新的测试方案,并将其应用于一款混合信号器件的测试中。新的测试方案充分结合了J750自动测试设备的特点,通过以下两个方面改进传统测试方案。一、测试程序优化:利用VBT将多项测试同步测试,更新了传统的PLL和数模转换器测试方式,减少了测试时间,提高了测试稳定性;二、硬件测试板设计:通过机械手等外围硬件配合,突破传统多点测试的设计,测试产能实现倍增。本论文从测试时间和成本上证明了新的测试方案可以有效改变混合信号类器件测试时间长、效率低的现象。从实际应用角度上,可为其它混合信号类器件测试提供借鉴,具有很高的实用价值。

论文目录

• 摘要
• ABSTRACT
• 1 前言
• 1.1 现状分析
• 1.2 本篇论文的实用价值
• 1.3 章节介绍
• 2 混合信号类器件测试项目及测试方法
• 2.1 集成电路ATE 测试介绍
• 2.2 混合信号类器件介绍
• 2.3 混合信号类器件数字测试介绍
• 2.3.1 Open-Short 测试
• 2.3.2 静态，动态电流测试
• 2.3.3 输入电流测试（IIL/IIH Test）
• 2.3.4 高阻电流测试（IOZL/IOZH Test）
• 2.3.5 功能测试（Functional Test）
• 2.4 混合信号类器件混合信号测试介绍
• 2.4.1 采样和重建
• 2.4.2 DAC 静态参数测试
• 2.4.3 DAC 动态参数测试
• 2.4.4 ADC 静态参数测试
• 2.4.5 ADC 动态参数测试
• 3 ATE 分类和J750 平台特性分析
• 3.1 ATE 分类介绍
• 3.1.1 数字类
• 3.1.2 模拟类
• 3.1.3 存储器类
• 3.1.4 混合信号类
• 3.1.5 ATE 的选择
• 3.2 J750 使用现状及面临的挑战
• 3.2.1 消费类电子器件的测试需求
• 3.2.2 J750 体系结构和基本参数
• 3.2.3 J750 的软件开发体系
• 3.2.4 J750 使用现状和面临的挑战
• 4 混合信号类器件测试程序开发
• 4.1 被测器件介绍
• 4.2 测试需求
• 4.2.1 直流测试和数字逻辑测试
• 4.2.2 混合信号测试
• 4.3 测试程序开发
• 4.3.1 Open/Short 测试
• 4.3.2 高阻电流测试
• 4.3.3 静态电流（功耗）测试
• 4.3.4 RAM Bist，Scan 测试等所有DFT 测试
• 4.3.5 PLL 测试
• 4.3.6 视频数模转换器静态参数测试
• 4.3.7 音频数模转换器动态参数测试
• 5 新测试方案开发及应用
• 5.1 新测试方案开发研究方向
• 5.2 新测试方案开发
• 5.2.1 测试程序优化
• 5.2.2 模拟信号稳定性优化
• 5.3 测试经济性优化
• 5.3.1 多点测试介绍
• 5.3.2 多点测试在Lion 项目中的应用
• 5.3.3 测试板设计与多点测试的结合应用
• 5.4 新、旧测试方案在LION 项目中的对比分析
• 6 全文总结
• 6.1 全文总结
• 6.2 未来展望
• 参考文献
• 致谢
• 攻读学位期间发表的学术论文
• 上海交通大学学位论文答辩决议书