论文摘要
工业CT(Computed Tomography)技术是世界上公认的最佳无损检测手段之一,目前在国内的应用越来越广泛,并在一些新技术领域发挥着愈加重要的作用。CT技术的发展和广泛的应用对工业CT的性能提出了更高的要求,包括CT成像精度、快速性、多任务性和可扩展性等。作为工业CT关键技术的控制系统,其性能直接决定了上述要求能否实现。目前,国内的工业CT控制系统难于在多轴同步时满足高精度和快速性的要求,并且开发时间较长,不具备灵活的可构建性。针对如何解决上述问题,论文对工业CT控制技术展开研究。论文首先分析了工业CT对控制系统的功能与性能要求,通过对目前几种主流控制技术在工业CT中应用的优缺点进行对比分析,提出了一种基于西门子SINUMERIK 840D通用数控系统的工业CT控制技术,并作了可行性论证。设计了以840D为控制核心的模块化控制平台总体结构,构建了系统控制平台。通过对工业CT典型二代、三代扫描控制方式进行分析,研究了基于通用数控平台的运动控制方法,制定了采用Synchronized Action和Digital NCK I/O实现同步控制的策略。根据工业CT控制系统与上位机的通讯要求,对840D基本底层控件的调用方法和内部数据的访问途径进行了研究,采用了SIEMENS OEM二次开发软件以及DDE技术,实现了以太网方式的CT扫描参数离线加载。通过采用基于控制功能划分的软件结构设计方法,完成了控制系统NC程序和PLC程序的设计。最后对数字交流伺服驱动系统SIMODRIVE 611D的数字闭环控制单元进行了分析,重点研究了闭环控制单元中的速度环和位置环,建立了全闭环位置控制的数学模型,在频域和时域下对参数进行了分析和优化,提高了系统的控制性能。通过在控制平台上对工业CT二代、三代扫描过程进行测试,结果表明,提出的基于通用数控平台的工业CT控制技术能够满足CT扫描过程中多轴联动以及对数据采集同步控制的要求,具有较高的控制精度和较好的实时性。同时,系统可靠性强、易于扩展、可对应用在不同领域的工业CT进行灵活地构建。