论文摘要
近年来,压电厚膜的研究引起了人们极大的兴趣,与薄膜相比,厚膜的压电、铁电性能较少受界面、表面等影响,同时较大的厚度能产生更大的驱动力,且具有更宽的工作频率,其中又以PZT压电厚膜器件最为突出,这同时对PZT材料的制备提出了更高的要求。目前生产PZT颗粒的方法主要用水热合成法,但是颗粒大小难以达到纳米级。本文提出利用脉冲兆赫超声法对合成的微米级PZT颗粒进行冲击,达到制备纳米级PZT颗粒的目的,并对得到的纳米PZT颗粒进行了压电力显微测量的探索性研究,成功测得其纵向压电系数并完成比较分析。主要研究内容如下:1.从声场角度分析了兆赫超声场能量来源以及指向特性,比较分析了兆赫超声相比于普通超声所具有的优势;设计并制作试验装置,包括夹心式压电换能器,兆赫电源以及整个电路的控制方式。2.对比机械力化学制备法,提出了兆赫超声制备方法的优势,利用兆赫超声试验系统对水热法合成的微米PZT颗粒进行作用,利用扫描电镜、X射线衍射仪等分析手段对制备效果进行检测,结果证明可以制备纳米PZT颗粒。3.介绍了压电力显微镜的测量方法,提出对分散的纳米PZT颗粒探索性地进行了PFM测量,成功得到了单个颗粒的的压电响应图像,计算得到单颗粒的纵向压电系数,并把纳米级和微米级PZT颗粒的纵向压电系数进行比较分析,结果表明兆赫超声制备的纳米PZT颗粒具备压电性能。
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